研課題
J-GLOBAL ID:202104017166821457  研究課題コード:08068772

故障励起関数に基づく高性能LSIに対する高効率故障検査ツールの開発

実施期間:2008 - 2008
実施機関 (1件):
研究代表者: ( , 大学院理工学研究科, 助教授 )
研究概要:
次世代の携帯電話用、デジタル機器用、および車載用の高性能LSIでは、信頼性確保のためのテストコストの増大が極めて深刻な問題である。本研究では、テスト記憶容量およびテスト印加時間等検査機器の制限がある中で、多様な故障モデルを高効率・高確率で検出できる「欠陥検出向けテスト集合生成ツール」の実用化を目指している。本研究の基本的なアイディアは、故障の励起条件に着目することである。
研究制度:
研究所管機関:
国立研究開発法人科学技術振興機構

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