次世代LSIテスト設計自動化システムの研究開発

実施期間：2004 - 2006
実施機関 (1件)：
研究責任者： ( , 大学院, 教授 )
研究概要：

本研究課題は、LSI内の如何なる複雑な故障をも精確に表現できるX故障モデルから派生する故障検出技術と故障診断技術を世界に先駆けて確立すると共に、LSIテスト設計自動化システムを初めて国産化するという戦略的目標を達成することによって、日本の半導体産業の持続的発展と福岡県のシリコンシーベルト構想の実現に大きく貢献する。

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研究制度：＞＞＞＞
研究所管機関：

国立研究開発法人科学技術振興機構

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