研課題
J-GLOBAL ID:202104019732154105  研究課題コード:11102169

結晶性高分子ブロック共重合体のミクロ相分離構造およびグレイン構造形成の小角・広角X線散乱同時測定法による解析

実施期間:2011 - 2011
実施機関 (1件):
研究責任者: ( , 大学院工学研究科, 准教授 )
研究概要:
イメージングプレート/フラットパネルセンサーを用いた小角/広角散乱測定を行った。試料にはポリブタジエンーポリε-カプロラクトン/ポリブタジエン混合系を用いた。室温においてはカプロラクトンの結晶のためにミクロドメイン構造が破壊されていた。しかし融点より十分高い180°Cでミクロドメイン構造(Frank-Kasperσ相)/グレイン構造の階層構造へ転移する事が分かった。フラットパネルセンサー(C9728DK-10:浜松ホトニクス)のノイズの公称値は多数測定して得られたであり、通常の1回の測定ではそれより大きなノイズを有する事が判明した。特に短時間の時間分解測定では問題となる。今後、中部小型シンクロトロン光施設(仮称)で小角/広角同時測定システムを構築し多くのユーザーへ技術移転を図る。
研究制度:
研究所管機関:
国立研究開発法人科学技術振興機構

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