マルチスペクトル画像による低コントラスト欠陥検出技術の開発

実施期間：2008 - 2008
実施機関 (1件)：
研究代表者： ( , 企画情報課, 専門研究員 )
研究概要：

微弱で微小な低コントラストの欠陥を、マルチスペクトル画像を用いて検出する技術を開発する。微弱な欠陥には高感度の、微小な欠陥には高解像度の撮像系が必要であるが、現存するマルチスペクトルカメラでは不十分である。そこで、高性能ラインセンサカメラを用いて、1スキャンで4バンド狭帯域スペクトル画像が得られるマルチスペクトルラインセンサカメラを製作する。さらに、これを用いたマルチスペクトル欠陥検出アルゴリズムを開発し、実部品の低コントラスト欠陥検出への適用も検討する。

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研究制度：＞＞＞＞
研究所管機関：

国立研究開発法人科学技術振興機構

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