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J-GLOBAL ID:202202210921140709   整理番号:22A0703570

通常反射率と機械学習による工業環境におけるフレキシブルPVモジュールのカプセル封じのためのAlO_x障壁層の厚み評価【JST・京大機械翻訳】

Thickness evaluation of AlOx barrier layers for encapsulation of flexible PV modules in industrial environments by normal reflectance and machine learning
著者 (9件):
資料名:
巻: 30  号:ページ: 229-239  発行年: 2022年 
JST資料番号: W0463A  ISSN: 1062-7995  CODEN: PPHOED  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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Cu(In,Ga)Se_2(CIGS)とペロブスカイトに基づくフレキシブル光起電力(PV)デバイスは,環境に対して十分な保護を提供しないカプセル化のための高分子フロントシートを使用する。これらの高分子材料への空間原子層堆積(S-ALD)によるナノメータAl_xO層の添加は,それらの低い水蒸気透過速度により環境保護を大きく改善でき,ロールツーロール工業生産ラインに適用する適切な解決策である。AlO_x層の厚さの正確な制御は効果的な水バリア性能を確保するために重要である。しかし,このようなナノメータ層の現在の厚さ評価法は,工業環境中に取り込むのにコストがかかり,複雑である。この文脈において,本研究は,AlO_xナノメータ層の厚さの精密,低コスト,およびスケーラブルな評価を可能にする,通常の反射率測定および制御パラメータベースの較正曲線または機械学習アルゴリズムのいずれかに基づく,新しいキャラクタリゼーション方法論を記述し,実証した。特に,提案した方法論を,PV産業に関連する3つの異なる基板,すなわち単結晶Si,Cu(In,Ga)Se_2マルチスタックフレキシブルモジュール,およびポリエチレンテレフタレート(PET)フレキシブルカプセル化箔上に堆積された厚さAlO_xナノ層を正確に決定するために適用した。提案した方法論は,感度<10nmと取得時間≦100msを示し,工業的モニタリング応用に適合する。さらに,ナノメータ層の厚さ制御のためのロールツーロール生産ラインへの垂直反射率システムのインライン統合のための特定の設計を定義し,提案した。Copyright 2022 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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太陽電池 

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