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J-GLOBAL ID：202202211712947564   整理番号：22A0732549

ThO_2におけるイオン誘起損傷均一性のRamanおよび光ルミネセンス評価【JST・京大機械翻訳】

Raman and photoluminescence evaluation of ion-induced damage uniformity in ThO₂

著者 (8件)： Rickert Karl (KBR, 2601 Mission Point Boulevard, Suite 300, Dayton, OH 45431, United States) ,  Prusnick Timothy A. (KBR, 2601 Mission Point Boulevard, Suite 300, Dayton, OH 45431, United States) ,  Hunt Eric (Air Force Research Laboratory, Sensors Directorate, 2241 Avionics Circle, Wright Patterson AFB, OH 45433, United States) ,  French Aaron (Department of Nuclear Engineering, Texas A&M University, College Station, TX 77843, United States) ,  Turner David B. (Azimuth Corporation, 2790 Presidential Drive, #200, Fairborn, OH 45324, United States) ,  Dennett Cody A. (Materials Science and Engineering Department, Idaho National Laboratory, Idaho Falls, ID 83415, United States) ,  Shao Lin (Department of Nuclear Engineering, Texas A&M University, College Station, TX 77843, United States) ,  Mann J. Matthew (Air Force Research Laboratory, Sensors Directorate, 2241 Avionics Circle, Wright Patterson AFB, OH 45433, United States)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻： 515  ページ： 69-79  発行年： 2022年 
JST資料番号： H0899A  ISSN： 0168-583X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 原子炉条件は,ThO_2のような潜在的燃料材料をイオンビーム放射に曝すことによって,部分的にエミュレートできる。次に,特性の変化は,材料が燃料としてどのように機能するかについて,貴重な洞察を提供することができる。ここでは,ThO_2の水熱成長単結晶を2MeV H+で照射し,結晶学的および電子的構造均一性と損傷範囲を調べた。μ-Raman分光法は,照射に直接曝露された結晶面への損傷が,T_2g構造ピークに関連して実質的に変化する照射誘起ピークの強度で不均一であることを示した。直交面の損傷はより均一であり,損傷深さプロファイルをRaman分光法で調べた。深さの関数としての損傷を,物質シミュレーションにおけるイオンの阻止範囲と比較した。光ルミネセンス分光法も用いて深さプロファイルを調べ,損傷の明確な兆候を示した。Copyright 2022 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *イオン ,  イオンビーム ,  原子炉 ,  シミュレーション ,  単結晶 ,  電子構造 ,  *光ルミネセンス ,  結晶学 ,  エミュレーション ,  直交性 ,  Raman分光法 ,  深さプロフィル ,  結晶面

著者キーワード (7件)： 損傷深さ ,  損傷均一性 ,  イオン照射 ,  光ルミネセンス ,  Raman分光法 ,  ThO_2 ,  Thoria

分類 (2件)： その他の物質の放射線による構造と物性の変化  (BK16124V) ,  半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E)

タイトルに関連する用語 (6件)： イオン ,  誘起 ,  損傷 ,  均一性 ,  光ルミネセンス ,  評価