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J-GLOBAL ID：202202212460732790   整理番号：22A0779569

検出不能な2サイクルゲート消去故障の効率的な同定【JST・京大機械翻訳】

Efficient Identification of Undetectable Two-Cycle Gate-Exhaustive Faults

著者 (1件)： Pomeranz Irith (School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN, USA)
資料名： IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems  (IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻： 41  号： 3  ページ： 776-783  発行年： 2022年 
JST資料番号： B0142C  ISSN： 0278-0070  CODEN： ITCSDI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： セルを意識した故障のスーパーセットとして,ゲート-消耗故障は,包括的な試験セットの生成のための目標を提供する。2サイクルゲート-消耗故障を考慮して,故障の数は過剰であり,故障の多くは検出不能である。本論文は,検出不能な2サイクルゲート-消耗故障の効率的同定を考察した。大量の必要な割当てを活かすために,故障は入力必要な割当ての計算に基づいている。また,この記事は,検出不能な2サイクルゲート-消耗故障の大きな割合を有するゲートが,試験生成の目標に,より重要であると主張する。ベンチマーク回路におけるこのようなゲートに対する実験結果を示した。Copyright 2022 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *故障 ,  回路 ,  *ゲート【半導体】 ,  2サイクル
準シソーラス用語： ベンチマーク回路 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 集積回路一般  (NC03161C) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 2サイクル ,  ゲート ,  消去 ,  故障 ,  同定