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J-GLOBAL ID:202202213562945036   整理番号:22A0909163

ニッケルの二次電子収率に及ぼす表面水素の効果を評価するための第一原理モンテカルロ解析【JST・京大機械翻訳】

Combined first-principles-Monte Carlo analysis to evaluate the effect of surface hydrogen on the secondary electron yield of nickel
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巻: 131  号: 10  ページ: 103301-103301-12  発行年: 2022年 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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Ni(110)表面の二次電子収率(SEY)モデリングを,波動ベクトル依存調和補正(非弾性平均自由行程と阻止力の両方を変える)の包含の有無で実施し,利用可能な実験データと比較した。補正は,Niにおける非弾性電子平均自由行程の予測を改善し,実験SEYデータとより良く一致することを示した。SEYは表面上の吸着質の存在に強く依存することが分かった。例えば,表面上の水素の増加は,SEYに影響するNi表面または近傍の水素層の位置配置により,二次電子収率の顕著な増強をもたらすと予測される。第一原理計算を用いて,種々のNi系の誘電率仕事関数と吸着エネルギーも計算し,利用可能な実験データと良く比較でき,電子輸送のモンテカルロ計算に用いた。Copyright 2022 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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Auger電子放出,二次電子放出 

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