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J-GLOBAL ID：202202213919495105   整理番号：22A0779224

再構成可能な知的表面カスケードチャネル推定のための多重残差高密度ネットワーク【JST・京大機械翻訳】

Multiple Residual Dense Networks for Reconfigurable Intelligent Surfaces Cascaded Channel Estimation

著者 (7件)： Jin Yu (School of Electronic and Information Engineering, Beijing Jiaotong University, Beijing, China) ,  Zhang Jiayi (School of Electronic and Information Engineering, Beijing Jiaotong University, Beijing, China) ,  Huang Chongwen (Provincial Key Lab of Information Processing, Communication and Networking, Zhejiang University, Hangzhou, Zhejiang, China) ,  Yang Liang (College of Computer Science and Electronic Engineering, Hunan University, Changsha, China) ,  Xiao Huahua (ZTE Corporation and State Key Laboratory of Mobile Network and Mobile Multimedia Technology, Shenzhen, China) ,  Ai Bo (State Key Laboratory of Rail Traffic Control and Safety, Beijing Jiaotong University, Beijing, China) ,  Wang Zhiqin (Academy of Information and Communications Technology, Beijing, China)
資料名： IEEE Transactions on Vehicular Technology  (IEEE Transactions on Vehicular Technology)
巻： 71  号： 2  ページ： 2134-2139  発行年： 2022年 
JST資料番号： C0244A  ISSN： 0018-9545  CODEN： ITVTAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 再構成可能インテリジェント表面(RIS)は,プログラマブル無線環境に依存する必須で有望なパラダイムを構成し,人工構造の全表面上の低コスト大規模反射要素の利用により,空間集約通信のための能力を提供する。しかし,正確なチャネル推定は,RISからの巨大な性能利得を達成するための基本的な技術的必要条件である。RISチャネルの低ランク構造を利用して,畳み込みブラインド雑音除去ネットワーク,畳込み雑音除去生成敵対ネットワーク,および多重残留高密度ネットワークという3つの実用的残差ニューラルネットワークを提案して,正確なチャネル状態情報を得て,それは推定性能に及ぼす種々の方法の影響を反映することができた。シミュレーション結果は,これらの3つの方法の進化方向を明らかにし,既存のベンチマーク方式と比較してそれらの優れた性能を明らかにした。Copyright 2022 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： シミュレーション ,  畳込み ,  情報 ,  *ネットワーク ,  ニューラルネットワーク ,  *残差 ,  *多重化 ,  通信 ,  利得 ,  必要条件 ,  チャネル ,  ベンチマーク ,  雑音除去 ,  *チャネル推定
準シソーラス用語： チャネル状態情報 ,  高密度 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 移動通信  (ND08030H) ,  信号理論  (ND02020G)

タイトルに関連する用語 (6件)： 再構成 ,  カスケード ,  チャネル推定 ,  多重 ,  残差 ,  高密度