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J-GLOBAL ID：202202213995628300   整理番号：22A1082580

異方性熱反射温度測定:異方性熱輸送を研究するための非接触周波数領域サーモリフレクタンス法【JST・京大機械翻訳】

Anisotropic thermoreflectance thermometry: A contactless frequency-domain thermoreflectance approach to study anisotropic thermal transport

著者 (9件)： Perez Luis A. (Institut de Ciencia de Materials de Barcelona, ICMAB-CSIC, Campus UAB, 08193 Bellaterra, Spain) ,  Xu Kai (Institut de Ciencia de Materials de Barcelona, ICMAB-CSIC, Campus UAB, 08193 Bellaterra, Spain) ,  Wagner Markus R. (Institut fuer Festkorperphysik, Technische Universitaet Berlin, Hardenbergstr. 36, 10623 Berlin, Germany) ,  Dorling Bernhard (Institut de Ciencia de Materials de Barcelona, ICMAB-CSIC, Campus UAB, 08193 Bellaterra, Spain) ,  Perevedentsev Aleksandr (Institut de Ciencia de Materials de Barcelona, ICMAB-CSIC, Campus UAB, 08193 Bellaterra, Spain) ,  Goni Alejandro R. (Institut de Ciencia de Materials de Barcelona, ICMAB-CSIC, Campus UAB, 08193 Bellaterra, Spain) ,  Campoy-Quiles Mariano (Institut de Ciencia de Materials de Barcelona, ICMAB-CSIC, Campus UAB, 08193 Bellaterra, Spain) ,  Alonso M. Isabel (Institut de Ciencia de Materials de Barcelona, ICMAB-CSIC, Campus UAB, 08193 Bellaterra, Spain) ,  Reparaz Juan Sebastian (Institut de Ciencia de Materials de Barcelona, ICMAB-CSIC, Campus UAB, 08193 Bellaterra, Spain)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 93  号： 3  ページ： 034902-034902-10  発行年： 2022年 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 熱的に異方性材料を考慮した場合,特に便利である熱輸送を研究するための新しい非接触周波数領域熱反射法を開発した。この方法は,通常の熱反射率としてスポットヒータを使用する代わりに,ホログラフィック回折光学素子で生成された線型ヒータ形状に基づいている。加熱器形状は,非接触方法論によって提供されるすべての技術的利点を保って,3-オメガ法で使用されるものと類似している。この方法は熱伝導率テンソルのすべての要素を決定するのに特に適切であり,それは,線型光学ヒータに関して試料を単に回転することによって実験的に達成された。異方性基板,薄膜および多層系のケースに対する熱方程式の数学的解を提供した。この方法論は,熱伝導率の正確な決定を可能にし,実験データ,すなわち,熱伝導率を,単純な線形適合(”傾斜法”)を通して,類似の方法で3omega法に得る,複雑なモデリングまたは集中的な計算努力を必要としない。広範囲の熱伝導率における等方性および異方性材料を研究することによって,このアプローチの可能性を実証した。特に,以下の無機および有機系を研究した。(i)ガラス,SiおよびGe基板(等方性),(ii)β-Ga_2O_3およびKapton基板(異方性),および(iii)Si基板上に析出した285nm厚さのSiO_2薄膜。熱伝導率の決定における精度は≒5%と見積もられるが,温度の不確実性はΔT≒3mKである。Copyright 2022 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *温度 ,  *温度測定 ,  ガラス ,  熱伝導率 ,  薄膜 ,  *輸送現象 ,  不確実性 ,  加熱器 ,  実験 ,  ケイ素 ,  計算 ,  ホログラフィー ,  *熱反射 ,  *熱 ,  *周波数領域
準シソーラス用語： *熱輸送 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： その他の熱的変量の計測法・機器  (AD06040R)

タイトルに関連する用語 (8件)： 異方性 ,  熱反射 ,  温度測定 ,  熱輸送 ,  研究 ,  非接触 ,  周波数領域 ,  サーモリフレクタンス法