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J-GLOBAL ID:202202214344298282   整理番号:22A0879779

循環型社会を実現する工業分野の計測技術 デジタル社会の進化を支える半導体製造歩留まり向上ソリューション

著者 (5件):
資料名:
巻: 104  号:ページ: 223-228  発行年: 2022年03月20日 
JST資料番号: F0062A  ISSN: 0367-5874  CODEN: HITAA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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社会生活のデジタル化とともに,カーボンニュートラル実現に向けた低消費電力化が社会課題となっている。先端半導体メーカーはこれらの課題を解決すべくデバイス開発を進めているが,高速化・大容量化・低消費電力化などの多くの課題に直面している。株式会社日立ハイテクは,半導体計測・検査事業を通じて先端半導体メーカーの製造歩留まり向上に貢献している。本稿では,複雑化する半導体の製造歩留まり向上を支援するべく,日立ハイテクの新たな計測ソリューションと,今後の展開について紹介する。(著者抄録)
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分類 (2件):
分類
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固体デバイス製造技術一般  ,  固体デバイス計測・試験・信頼性 
引用文献 (14件):
  • 環境省,令和3年版 環境・循環型社会・生物多様性白書 第1部 第2章 脱炭素社会・循環経済・分散型社会への3つの移行(2021.6), https://www.env.go.jp/policy/hakusyo/r03/html/hj21010201.html
  • 株式会社日立ハイテク,企業情報,数字でわかる!日立ハイテク, https://www.hitachi-hightech.com/jp/about/data/
  • H. Xiao: Introduction to Semiconductor Manufacturing Technology, Second Edition, SPIE Press Book (2012.9)
  • 池上透,外:半導体用微小寸法計測システムの発展と今後の展望,日立評論,93,2,183~187(2011.2)
  • H. Xiao: 3D IC Devices, Technologies, and Manufacturing, SPIE Press Book (2016.4)
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