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J-GLOBAL ID：202202216884202388   整理番号：22A0957190

130nm ASIC上の単一エネルギー陽子により誘起されたシングルイベント効果断面積の測定【JST・京大機械翻訳】

Measurement of single event effect cross section induced by monoenergetic protons on a 130 nm ASIC

著者 (9件)： Boumediene D. (Laboratoire de Physique de Clermont-Ferrand (LPC), Universite Clermont Auvergne, CNRS/IN2P3, 4 avenue Blaise Pascal, 63178 Aubiere, France) ,  Jouve F. (Laboratoire de Physique de Clermont-Ferrand (LPC), Universite Clermont Auvergne, CNRS/IN2P3, 4 avenue Blaise Pascal, 63178 Aubiere, France) ,  Lambert D. (Laboratoire de Physique de Clermont-Ferrand (LPC), Universite Clermont Auvergne, CNRS/IN2P3, 4 avenue Blaise Pascal, 63178 Aubiere, France) ,  Madar R. (Laboratoire de Physique de Clermont-Ferrand (LPC), Universite Clermont Auvergne, CNRS/IN2P3, 4 avenue Blaise Pascal, 63178 Aubiere, France) ,  Manen S. (Laboratoire de Physique de Clermont-Ferrand (LPC), Universite Clermont Auvergne, CNRS/IN2P3, 4 avenue Blaise Pascal, 63178 Aubiere, France) ,  Perrin O. (Laboratoire de Physique de Clermont-Ferrand (LPC), Universite Clermont Auvergne, CNRS/IN2P3, 4 avenue Blaise Pascal, 63178 Aubiere, France) ,  Royer L. (Laboratoire de Physique de Clermont-Ferrand (LPC), Universite Clermont Auvergne, CNRS/IN2P3, 4 avenue Blaise Pascal, 63178 Aubiere, France) ,  Soulier A. (Laboratoire de Physique de Clermont-Ferrand (LPC), Universite Clermont Auvergne, CNRS/IN2P3, 4 avenue Blaise Pascal, 63178 Aubiere, France) ,  Vandaele R. (Laboratoire de Physique de Clermont-Ferrand (LPC), Universite Clermont Auvergne, CNRS/IN2P3, 4 avenue Blaise Pascal, 63178 Aubiere, France)
資料名： Journal of Instrumentation  (Journal of Instrumentation)
巻： 17  号： 2  ページ： P02007 (12pp)  発行年： 2022年 
JST資料番号： W5562A  ISSN： 1748-0221  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高輝度LHC(HL-LHC)のような放射環境における集積回路の設計は困難である。集積回路は放射線誘起単一事象効果(SEE)にさらされる。深いサブミクロン技術装置において,SEEsの影響は,三重モジュール冗長性によって軽減することができた。最も感度の高いデータの三倍化を用いて,相互作用粒子によって誘発されたデータ崩壊の大部分を回復した。本論文では,単一イベントアップセット(SEU)と呼ばれるSEEの1タイプを研究した。SEU断面と三重複製の性能を,陽子ビームに曝露したASICプロトタイプを用いて推定した。SEU断面を測定し,1→0と0→1ビットフリップ速度の間の系統的差異を観察した。緩和方法の効率を調査した。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 感度 ,  集積回路 ,  相互作用 ,  *断面積 ,  *陽子 ,  陽子ビーム ,  冗長性 ,  複製 ,  放射線 ,  緩和現象 ,  *ASIC ,  SEU【シングルイベント】 ,  プロトタイプ
準シソーラス用語： *SEE【事象】 ,  単一事象 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E)

タイトルに関連する用語 (6件)： ASIC ,  エネルギー ,  陽子 ,  誘起 ,  シングルイベント効果 ,  断面積