Chelly Avraham について
Alexander Kofkin Faculty of Engineering, Bar-Ilan University, Ramat Gan 5290002, Israel について
Belhassen Jeremy について
Alexander Kofkin Faculty of Engineering, Bar-Ilan University, Ramat Gan 5290002, Israel について
Belhassen Jeremy について
Lev Academic Center, Dept. of Applied Physics/Electro-Optics Eng., Advanced Lab. of Electro-Optics, 21 Havaad Haleumi St., POB 16031, Jerusalem 9116001, Israel について
Karsenty Avi について
Lev Academic Center, Dept. of Applied Physics/Electro-Optics Eng., Advanced Lab. of Electro-Optics, 21 Havaad Haleumi St., POB 16031, Jerusalem 9116001, Israel について
Karsenty Avi について
Nanotechnology Educational and Research Center, Lev Academic Center, Jerusalem 9116001, Israel について
Applied Surface Science について
温度 について
シミュレーション について
電位 について
熱起電力 について
ゲルマニウム について
半導体材料 について
交差試験 について
温度依存性 について
可視化 について
少数キャリア について
温度変動 について
輸送係数 について
Seebeck係数 について
数値モデル について
ホットプローブ法 について
ゲルマニウム について
荷電キャリアの拡散 について
熱分布 について
熱電効果 について
Beebeck係数 について
数値解析と解析 について
半導体結晶の電気伝導 について
半導体薄膜 について
Ge について
Seebeck効果 について
空間依存性 について
交差試験 について