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J-GLOBAL ID：202202219560963283   整理番号：22A0541216

誘電率異方性を有するネマティック液晶における電界誘起臨界点の誘電特性研究

Dielectric Study of the Electric-Field-Induced Critical Endpoint in a Nematic Liquid Crystal with Positive Dielectric Anisotropy

著者 (4件)： TAKIKAWA Yoshinori (Nagoya Inst. of Technol., Nagoya, JPN) ,  KATAGIRI Keisuke (Nagoya Inst. of Technol., Nagoya, JPN) ,  IWATA Makoto (Nagoya Inst. of Technol., Nagoya, JPN) ,  ORIHARA Hiroshi (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)
資料名： Journal of the Physical Society of Japan  (Journal of the Physical Society of Japan)
巻： 91  号： 2  ページ： 024002.1-024002.5  発行年： 2022年02月15日 
JST資料番号： G0509A  ISSN： 0031-9015  CODEN： JUPSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 正の誘電率異方性を持つネマティック液晶は,電界下で臨界点を示す。特に,等方性-ネマチック相転移は電場などの外的要因のもとで臨界端点で消失する可能性がある。そこで,臨界点近傍の誘電特性について,理論と実験の両面から検討した。まず,Landau-de Gennes理論に従って電場下での誘電率を計算し,等方性-ネマチック相転移に関連するソフトモードが誘電率測定によって明らかにできることを示した。8CBネマチック液晶の誘電率の温度依存性を直流電界下で測定した。その結果,臨界点付近でソフトモードに相当する低周波の緩和モードの観測に成功した。これは,改良された測定システムを用いて,緩和の強さと周波数の温度・電場依存性に基づき,将来的に臨界点近傍のソフトモード観測の可能性を示すものである。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 誘電率 ,  異方性 ,  *ネマチック相 ,  *相転移 ,  臨界点 ,  *誘電性 ,  電場効果 ,  等方性 ,  ソフトモード ,  LF【周波数】 ,  誘電緩和
準シソーラス用語： *ネマチック液晶 ,  *電界誘起相転移 ,  *誘電特性

分類 (1件)： 強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B)

引用文献 (17件)：

• H. Eugene Stanley, Introduction to Phase Transitions and Critical Phenomena (Clarendon Press, Oxford, U.K., 1971).
• T. Tanaka, Phys. Rev. Lett. 40, 820 (1978).
• H. Nohara, H. Kotegawa, H. Tou, T. D. Matsuda, E. Yamamoto, Y. Haga, Z. Fisk, Y. Onuki, D. Aoki, and J. Flouquet, J. Phys. Soc. Jpn.80, 093707 (2011).
• Z. Kutnjak, J. Petzelt, and R. Blinc, Nature 441, 956 (2006).
• M. Iwata, K. Yamashita, S. Suzuki, Y. Takikawa, and Y. Tachi, Jpn. J. Appl. Phys. 60, SFFA03 (2021).

タイトルに関連する用語 (7件)： 誘電率異方性 ,  ネマティック液晶 ,  電界 ,  誘起 ,  臨界点 ,  誘電特性 ,  研究