Sharma Sucheta について
Metrology Research Institute, Aalto University, Maarintie 8, FI-02150 Espoo, Finland について
Laurila Toni について
Metrology Research Institute, Aalto University, Maarintie 8, FI-02150 Espoo, Finland について
Rossi Jussi について
Photonics Laboratory, Tampere University, Korkeakoulunkatu 7 Kampusareena, 33720 Tampere, Finland について
Uotila Juho について
Patria Aviation Oy, Hatanpaeaen valtatie 30, 33100 Tampere, Finland について
Vainio Markku について
Photonics Laboratory, Tampere University, Korkeakoulunkatu 7 Kampusareena, 33720 Tampere, Finland について
Vainio Markku について
Department of Chemistry, University of Helsinki, PB 55 (A. I. Virtasen aukio 1), 00014 Helsinki, Finland について
Manoocheri Farshid について
Metrology Research Institute, Aalto University, Maarintie 8, FI-02150 Espoo, Finland について
Ikonen Erkki について
Metrology Research Institute, Aalto University, Maarintie 8, FI-02150 Espoo, Finland について
Ikonen Erkki について
VTT MIKES, Tekniikantie 1, 02150 Espoo, Finland について
Sensors and Actuators. A. Physical について
応答 について
最適化 について
電力 について
音響 について
ケイ素 について
光学的測定 について
片持梁 について
分光感度 について
スペクトル について
検出法 について
光音響効果 について
電磁波放射 について
ダイナミックレンジ について
電磁力 について
数値モデル について
線形応答 について
光音響 について
すす について
検出器 について
光学的計測法 について
放射線検出 について
光音響数値モデル について
カンチレバー圧力センサ について
固体デバイス製造技術一般 について
力,仕事量,圧力,摩擦の計測法・機器 について
干渉測定と干渉計 について
長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器 について
カンチレバー について
光音響効果 について
電磁放射 について
スペクトル感度 について
ダイナミックレンジ について
検出器 について