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J-GLOBAL ID：202202220634457179   整理番号：22A1113283

より小さい試料を用いた連続試験のための新しい実験室規模高周波スクリーンの試験【JST・京大機械翻訳】

Testing a new laboratory-scale high-frequency screen for continuous trials with smaller samples

著者 (4件)： Moraes Matheus Naves (Raw Material and Basic Mixes R&D Americas, RHI Magnesita, Contagem, Brazil) ,  Nogueira Gustavo Geraldo Rezende (Raw Material and Basic Mixes R&D Americas, RHI Magnesita, Contagem, Brazil) ,  Galery Roberto (Graduate Program in Metallurgical, Materials and Mining Engineering, Federal University of Minas Gerais, Belo Horizonte, Brazil) ,  Mazzinghy Douglas Batista (Graduate Program in Metallurgical, Materials and Mining Engineering, Federal University of Minas Gerais, Belo Horizonte, Brazil)
資料名： Powder Technology  (Powder Technology)
巻： 401  ページ： Null  発行年： 2022年 
JST資料番号： B0730A  ISSN： 0032-5910  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 実験室デバイスは,プロセスをモデル化し,スケールアップシミュレーションを可能にし,工業規模の性能を評価する。本研究は,2つの異なるアプローチを用いた連続試行と初期モデリング評価のための実験室規模の高周波スクリーンの開発を提示した。考慮したデータセットの精度と精度に従ってモデルを評価した。さらに,プロセス条件の変化に対するパラメータの感度を,固体濃度,供給速度およびスクリーン開口の変化に対して解析した。モデリング精度とパラメータ感度の両方に対して,Mwaleらはより良い結果を示し,データセット記述とプロセスシミュレーションのためのより適切なモデルを示した。Copyright 2022 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： シミュレーション ,  *スクリーン ,  開口 ,  試験 ,  スケールアップ ,  *HF【周波数】 ,  *実験室 ,  モデリング ,  スクリーニング ,  プロセスシミュレーション
準シソーラス用語： 供給速度 ,  プロセスモデリング , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： プロセスモデリング ,  ウェットファインスクリーニング ,  小サンプルサイズ ,  実験室規模

分類 (3件)： 粉体工学  (XD03010M) ,  固体の製造・処理一般  (XD03021O) ,  装置内の流れ  (XD01010Y)

タイトルに関連する用語 (6件)： 試料 ,  試験 ,  実験室 ,  規模 ,  高周波 ,  スクリーン