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J-GLOBAL ID：202202220703815990   整理番号：22A0847761

スライディングスケール時間-ディジタル変換回路に基づく高精度時間間隔測定法【JST・京大機械翻訳】

High-Precision Time Interval Measurement Method Based on Sliding Scaled Time-to-Digital Conversion Circuit

著者 (6件)： Wu Jin (School of Microelectronics, Southeast University, Nanjing, China) ,  Zhong Ruiming (School of Microelectronics, Southeast University, Nanjing, China) ,  Sui Yuanfeng (School of Microelectronics, Southeast University, Nanjing, China) ,  Zhao Yang (School of Microelectronics, Southeast University, Nanjing, China) ,  Wan Chenggong (School of Microelectronics, Southeast University, Nanjing, China) ,  Zheng Lixia (School of Microelectronics, Southeast University, Nanjing, China)
資料名： IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement  (IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement)
巻： 71  ページ： ROMBUNNO.2001609.1-9  発行年： 2022年 
JST資料番号： C0232A  ISSN： 0018-9456  CODEN： IEIMAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文は,スライディングスケール技術(SST)と平均方法の方法を採用して,時間間隔測定精度を著しく改良した。マルチセグメント時間対ディジタル変換器(TDC)のために,二重DLLに基づくバーニール型TDCを精度改善のために適用し,一方,対型高セグメントTDCを範囲拡大のために採用して,TDCを識別する位相を上記の2つのTDCsをブリッジするために使用する。125MHz基準クロック,3.3V電源電圧,およびTSMC0.35μm標準CMOSプロセスの条件下で,本論文で与えられたTDCを実行した。試験結果は,提案したTDCの分解能とダイナミックレンジがそれぞれ29.8psと1Ωμsに達することを示した。ダイナミックレンジと分解能の間の矛盾を効果的に軽減した。SSTと平均法の組合せによって,TDCの単一ショット精度は6psであり,それは対応する分解能よりはるかに少ない。測定した微分非線形性(DNL)は-0.3と0.4LSBの範囲に制限され,積分非線形性(INL)は-0.6と0.6LSBの間に位置した。Copyright 2022 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 時間 ,  測定精度 ,  分解能 ,  平均法 ,  位相 ,  粒状材 ,  *ダイナミックレンジ
準シソーラス用語： CMOSプロセス ,  電源電圧 ,  高精度 ,  時間間隔 ,  微分非直線性 ,  ディジタル変換 ,  基準クロック , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 撮像・録画装置  (ND12032E) ,  通信測定一般  (ND03000R)

タイトルに関連する用語 (4件)： ディジタル ,  変換回路 ,  時間間隔 ,  測定法