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J-GLOBAL ID：202202221204530919   整理番号：22A0490647

SMART鋳造単結晶,Czochralskiおよび高性能多結晶シリコンからのp型PERCセルにおける適応焼成プロセスを介したLeTID緩和【JST・京大機械翻訳】

LeTID mitigation via an adapted firing process in p-type PERC cells from SMART cast-monocrystalline, Czochralski and high-performance multicrystalline silicon

著者 (12件)： Maischner Felix (Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems ISE, Freiburg, Germany) ,  Maus Stephan (Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems ISE, Freiburg, Germany) ,  Greulich Johannes (Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems ISE, Freiburg, Germany) ,  Lohmueller Sabrina (Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems ISE, Freiburg, Germany) ,  Lohmueller Elmar (Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems ISE, Freiburg, Germany) ,  Saint-Cast Pierre (Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems ISE, Freiburg, Germany) ,  Ourinson Daniel (Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems ISE, Freiburg, Germany) ,  Vahlman Henri (Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems ISE, Freiburg, Germany) ,  Hergert Karin (Rehm Thermal Systems GmbH, Blaubeuren, Germany) ,  Riepe Stephan (Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems ISE, Freiburg, Germany) ,  Glunz Stefan (Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems ISE, Freiburg, Germany) ,  Rein Stefan (Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems ISE, Freiburg, Germany)
資料名： Progress in Photovoltaics  (Progress in Photovoltaics)
巻： 30  号： 2  ページ： 123-131  発行年： 2022年 
JST資料番号： W0463A  ISSN： 1062-7995  CODEN： PPHOED  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,人工的に制御された欠陥技術(SMART)単結晶シリコン,磁気的に成長した,および従来のCzochralski(mCzとCz)シリコン,および高性能多結晶(hpm)シリコンのためのシード操作で作られたウエハに基づいて,不動態化エミッタと背面セル(PERC)を分析した。すべてのウエハは,ランダムピラミッドの代わりに酸性テクスチャを受けたhpmウエハを除き,同一に加工した。21.4%のSMART細胞のエネルギー変換効率ηはmCz細胞(21.5%)と類似しているが,hpm細胞より[数式:原文を参照]より高い。さらに,著者らは,光および高温誘起劣化(LeTID)が,産業生産で使用できるより遅い焼成ランプを取り入れた,適応高速燃焼プロセスによる初期効率の著しい損失なしに,hpm,CzおよびSMART PERC細胞において緩和されることを初めて示した。これらのランプで燃焼されたセルは,1100時間,75°Cと0.15太陽照明でのLeTID試験の間に,顕著な効率損失([数式:原文を参照])を示さないが,一方,参照高速燃焼プロセスは,LeTIDによる[数式:原文を参照]の効率損失をもたらす。LeTID試験の前にホウ素-酸素欠陥を再生するために処理されたCz細胞に対して,最大分解は[数式:原文を参照]から[数式:原文を参照]へ減少した。Copyright 2022 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 高温 ,  太陽 ,  *単結晶 ,  照明 ,  *鋳造 ,  不動態化 ,  磁気 ,  *多結晶 ,  燃焼過程 ,  *緩和現象 ,  酸性 ,  角錐 ,  エネルギー変換効率 ,  *ポリシリコン
準シソーラス用語： 酸素欠陥 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： キャリア誘起劣化(CID) ,  高速燃焼オーブン(FFO) ,  光および高温誘起劣化(LeTID) ,  緩和 ,  不動態化エミッタ裏面接触(PERC) ,  人工的に制御された欠陥技術(SMART)のための種子操作

分類 (1件)： 太陽電池  (NC03084O)

タイトルに関連する用語 (9件)： SMART ,  鋳造 ,  単結晶 ,  高性能 ,  多結晶シリコン ,  セル ,  適応 ,  焼成プロセス ,  緩和