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J-GLOBAL ID：202202221400501203   整理番号：22A0979757

変圧器のための誘導電圧耐圧試験装置の設計【JST・京大機械翻訳】

Design of An Induced Voltage Withstand Test Device for Potential Transformer

著者 (8件)： Li Siquan (Chongqing Electric Power Research Institute,Chongqing,China,401121) ,  Wang Qian (Chongqing Electric Power Research Institute,Chongqing,China,401121) ,  Long Yingkai (Chongqing Electric Power Research Institute,Chongqing,China,401121) ,  Jiang Xiping (Chongqing Electric Power Research Institute,Chongqing,China,401121) ,  Luo Xiaoxiao (Chongqing Electric Power Research Institute,Chongqing,China,401121) ,  Li Yongfu (Chongqing Electric Power Research Institute,Chongqing,China,401121) ,  Liu Jia (Chongqing Electric Power Research Institute,Chongqing,China,401121) ,  Shen Zeliang (Chongqing University,Chongqing,China,40044)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2022  号： ITOEC  ページ： 863-867  発行年： 2022年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 潜在的変圧器(PT)はAC電力系統のセンシングデバイスとして広く用いられている。その安全性を確保するために,運転に投入する前に,PTに関する誘導耐性試験を行う必要がある。しかし,浮遊容量の影響のため,PTのポート電流は試験中に急速に上昇し,機器と人員にリスクをもたらす。工学において,ポート電流は保護巻線と並列にインダクタを接続することによって制限される。しかし,この方法の適用を制限する補償インダクタンスの値を決定することは困難である。本論文は,改良PT誘導耐性試験法を提案した。この方式は,予備試験による補償インダクタンスの値を得て,次に,保護巻線と並列にインダクタによる誘導に耐える。次に,PTのポート電流を試験中に大いに低減でき,試験の安全性を保証した。対応する装置を,自動的に試験段階を実行するために設計した。実験結果は,改良方式が誘導耐性試験の間,ポート電流を大いに減らすことができ,この方式の有効性を証明した。Copyright 2022 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： インダクタンス ,  電流 ,  *変圧器 ,  巻線 ,  漂遊容量 ,  検出器 ,  ポート ,  有効性
準シソーラス用語： 試験方法 ,  *誘導電圧 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 変圧器 ,  誘導電圧 ,  耐圧試験 ,  設計