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J-GLOBAL ID：202202228475276123   整理番号：22A1076704

温度可変装置における長時間測定について

著者 (1件)： 島田愛子 (JEOL RESONANCE)
資料名： 電子スピンサイエンス
号： 38  ページ： 44  発行年： 2022年03月15日 
JST資料番号： L7828A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・電子スピン共鳴(ESR)測定や電子顕微鏡観察において,試料温度を低温領域で制御し長時間保持する実験方法を,商品紹介を通じて概説。
・デュワーの容量に応じた温度可変装置の商品シリーズについて,設定温度と連続運転時間を説明。
・堆積物から抽出した石英試料をガンマ線照射しステップ状に昇温してESR測定する実験例を通じて装置特性を紹介。

シソーラス用語： *温度制御 ,  *クライオスタット ,  *低温装置 ,  *ESR【磁気共鳴】 ,  *低温技術
準シソーラス用語： *CESR【共鳴】 ,  製品紹介 ,  *電子スピン共鳴

分類 (2件)： 低温装置  (AD06053B) ,  電子スピン共鳴一般  (BM07021V)

タイトルに関連する用語 (1件)： 可変装置