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J-GLOBAL ID：202202229830694702   整理番号：22A0740906

プラズモン誘起ホットキャリアの電子-正孔対安定化と光触媒への決定因子寄与としてのSchottky障壁の動的発展【JST・京大機械翻訳】

Dynamical evolution of the Schottky barrier as a determinant contribution to electron-hole pair stabilization and photocatalysis of plasmon-induced hot carriers

著者 (7件)： Berdakin Matias (INFIQC (CONICET-UNC), Ciudad Universitaria, Pabellon Argentina, 5000 Cordoba, Argentina. [e-mail]) ,  Soldano German ,  Bonafe Franco P. ,  Liubov Varlamova ,  Aradi Balint ,  Frauenheim Thomas ,  Sanchez Cristian G.
資料名： Nanoscale  (Nanoscale)
巻： 14  号： 7  ページ： 2816-2825  発行年： 2022年 
JST資料番号： W2323A  ISSN： 2040-3364  CODEN： NANOHL  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： プラズモン誘起ホットキャリアの利用はクリーンエネルギーおよび化学触媒の開発のための新しい道を開く。熱化と再結合前のキャリアの抽出は,魅力的な変換収率を得るために基本的に重要である。ここでは,電子および電子イオン動力学を用いて,パラダイムAu-TiO_2系におけるホットキャリア注入を研究した。結果は,純粋な電子特性(環境への多体相互作用または散逸を考慮しない)が電子-正孔分離安定性に寄与することを示した。これらの結果は,電荷注入ペースで生じる界面ポテンシャル障壁(Schottky障壁)への動的寄与の存在を明らかにし,電子逆変換を遅らせた。さらに,この電荷分離安定化は,TiO_2表面上に配置されたキャッピング分子への電荷に必要な時間を提供し,光触媒解離をもたらすコヒーレント結合振動を引き起こすことを示した。これらの結果は,既に検出された長寿命ホットキャリア寿命とそれらの触媒効果の解釈と,同時にそれらの技術的応用への新しい展望を追加することを期待する。Copyright 2022 Royal Society of Chemistry All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *Schottky障壁 ,  コヒーレンス ,  再結合 ,  *正孔 ,  *プラズモン ,  技術 ,  誘導 ,  キャリア注入 ,  *ホットキャリア ,  熱化 ,  逆変換 ,  *電子正孔対 ,  *光触媒 ,  電荷分離
準シソーラス用語： 触媒作用 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 固体プラズマ  (BM02160W) ,  光化学一般  (CB08010U)

タイトルに関連する用語 (9件)： プラズモン ,  誘起 ,  ホットキャリア ,  電子-正孔対 ,  安定化 ,  光触媒 ,  決定因子 ,  Schottky障壁 ,  発展