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J-GLOBAL ID:202202230390218834   整理番号:22A0489943

デシブル平均標準偏差を用いたプロセス変動のモニタリング【JST・京大機械翻訳】

Monitoring process variability using decile mean standard deviation
著者 (2件):
資料名:
巻: 38  号:ページ: 501-515  発行年: 2022年 
JST資料番号: C0764C  ISSN: 0748-8017  CODEN: QREIE5  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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制御チャートは,プロセス品質をモニタし,多くの産業で使われるために必須のツールである。古典的Shwhart S-制御チャートは,時間にわたるプロセスの変化を評価するための統計的プロセス制御(SPC)における最も一般的な制御チャートである。本論文では,SD_DM(平均標準偏差)に基づくSD_DM-制御チャートを提案することにより,S-制御チャートを修正し,品質関数が正常に監視されると仮定する。期待した幅(EW)と予想外制御点(EPO)を推定することによるモンテカルロシミュレーション研究によって,研究中の伝統的および提案した制御チャートの性能を評価した。シミュレーションにおいて,制御ラン長さ(ARL_1)の平均は,制御チャートの感度を分析する最良の方法と考えられる。シミュレーション解析の結果は,提案したSD_DM-制御チャートが良好に実行され,古典的S-制御チャートの非常に近い一致が,プロセス変動の改善がS-制御チャートのものと非常に類似していることを明らかにした。さらに,提案したSD_DM制御チャートのアーキテクチャレイアウトは,SPCアプリケーションで最も現実的な状況であるより小さなサンプルサイズ値(n)に対する従来のS制御チャートよりも強力である。したがって,提案したチャートは通常のプロセスの下でシフト検出に等しく互換性がある。異常プロセスの場合,提案したSD_DM-制御限界は,異常値の存在によってあまり影響されない。実生活データセットを,説明目的のためのシミュレーション解析から著者らの観察を助けるために評価した。従って,S-制御チャートのSD_DMバージョンは,産業,工学,医学および物理科学の様々な分野における実務者によって使用されることが推奨される。Copyright 2022 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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