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J-GLOBAL ID：202202231148150944   整理番号：22A1033534

位相シフトモアレ干渉法によるコーナと界面近傍の変形場の解明【JST・京大機械翻訳】

Resolving Deformation Field Near Corners and Interfaces by Phase Shifting Moire Interferometry

著者 (5件)： Zou Daqing (Wayne State University) ,  He Xiaoyuan (Wayne State University) ,  Liu Sheng (Wayne State University) ,  Guo Yifan (Motorola Semiconductor Products Sector) ,  Dai Fulong (Tsinghua University)
資料名： ASME Conference Proceedings  (ASME Conference Proceedings)
号： IMECE97  ページ： 69-76  発行年： 2022年 
JST資料番号： A0478C  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 積層構造に対する隅角あるいは界面近くの変形場を解決するのは難しいが,応力/歪濃度,歪勾配,破壊開始および成長,局所微細構造進展などを扱うための測定技術が不可欠である。本研究では,電子パッケージングにおけるいくつかの興味深い問題を調べるために,画像処理ソフトウェアと結合した革新的位相シフト技術を提案した。パワープラスチックICパッケージとフリップチップパッケージを選択して,システムの強力性を示した。ナノスケール変形場を,隅角部とフリップチップはんだボールを含むアンダー充填の両方に対して得た。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *位相シフト ,  応力 ,  *界面 ,  破壊 ,  *変形 ,  計測 ,  フリップチップ法 ,  積層構造 ,  ICパッケージ
準シソーラス用語： ナノスケール ,  はんだバンプ ,  歪勾配 ,  微細構造進展 ,  画像処理ソフトウェア ,  モアレ干渉法 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 固体デバイス材料  (NC03020K) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 位相シフト ,  モアレ干渉法 ,  コーナ ,  界面近傍