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J-GLOBAL ID：202202231464186095   整理番号：22A0655272

超伝導量子プロセッサを用いた密度行列指数化の実証【JST・京大機械翻訳】

Demonstration of Density Matrix Exponentiation Using a Superconducting Quantum Processor

著者 (35件)： Kjaergaard M. (Research Laboratory of Electronics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  Schwartz M. E. (MIT Lincoln Laboratory, Lexington, Massachusetts 02421, USA) ,  Greene A. (Research Laboratory of Electronics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  Greene A. (Department of Electrical Engineering & Computer Science, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  Samach G. O. (Research Laboratory of Electronics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  Samach G. O. (MIT Lincoln Laboratory, Lexington, Massachusetts 02421, USA) ,  Samach G. O. (Department of Electrical Engineering & Computer Science, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  Bengtsson A. (Research Laboratory of Electronics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  Bengtsson A. (Microtechnology and Nanoscience, Chalmers University of Technology, Goteborg 412 96, Sweden) ,  O’Keeffe M. (MIT Lincoln Laboratory, Lexington, Massachusetts 02421, USA) ,  McNally C. M. (Research Laboratory of Electronics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  McNally C. M. (Department of Electrical Engineering & Computer Science, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  Braumueller J. (Research Laboratory of Electronics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  Kim D. K. (MIT Lincoln Laboratory, Lexington, Massachusetts 02421, USA) ,  Krantz P. (Research Laboratory of Electronics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  Marvian M. (Research Laboratory of Electronics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  Marvian M. (Department of Mechanical Engineering, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  Melville A. (MIT Lincoln Laboratory, Lexington, Massachusetts 02421, USA) ,  Niedzielski B. M. (MIT Lincoln Laboratory, Lexington, Massachusetts 02421, USA) ,  Sung Y. (Research Laboratory of Electronics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  Sung Y. (Department of Electrical Engineering & Computer Science, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  Winik R. (Research Laboratory of Electronics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  Yoder J. (MIT Lincoln Laboratory, Lexington, Massachusetts 02421, USA) ,  Rosenberg D. (MIT Lincoln Laboratory, Lexington, Massachusetts 02421, USA) ,  Obenland K. (MIT Lincoln Laboratory, Lexington, Massachusetts 02421, USA) ,  Lloyd S. (Research Laboratory of Electronics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  Lloyd S. (Department of Mechanical Engineering, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  Orlando T. P. (Research Laboratory of Electronics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  Orlando T. P. (Department of Electrical Engineering & Computer Science, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  Marvian I. (Departments of Physics & Electrical and Computer Engineering, Duke University, Durham, North Carolina 27708, USA) ,  Gustavsson S. (Research Laboratory of Electronics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  Oliver W. D. (Research Laboratory of Electronics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  Oliver W. D. (MIT Lincoln Laboratory, Lexington, Massachusetts 02421, USA) ,  Oliver W. D. (Department of Physics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA) ,  Oliver W. D. (Department of Electrical Engineering & Computer Science, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA)
資料名： Physical Review X  (Physical Review X)
巻： 12  号： 1  ページ： 011005  発行年： 2022年 
JST資料番号： W5063A  ISSN： 2160-3308  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 密度行列指数化(DME)は,量子状態ρをターゲットシステム上の量子演算[数式:原文を参照]を制定する一般的技術である。量子機械学習の文脈で最初に提案されたが,量子計測と計算において広い応用を持つことが示されている。DMEの実験的実証は,その要求回路深さと,ターゲットシステムの有限寿命の間にρの多重同一コピーを効率的に生成する必要があるため,これまで行われなかった。本研究では,超伝導量子プロセッサを用いて達成したDMEアルゴリズムの最初の実証を述べた。この実証は,2つの調整可能な超伝導トランスモン量子ビットを用いて実装された99.7%の忠実度制御位相ゲートに依存する。完全な動作と測定を仮定するシミュレーションに対して,量子プロセッサ上で実行される回路の出力を比較するとき,70を超える回路深さで90%を超える忠実度を達成した。Copyright 2022 The American Physical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： アルゴリズム ,  *超伝導 ,  *密度行列 ,  学習 ,  制御 ,  忠実度 ,  多重化 ,  回路 ,  *演算プロセッサ ,  量子計算 ,  量子情報
準シソーラス用語： 超伝導変圧器 ,  量子状態 ,  量子ビット ,  量子位相ゲート ,  量子測定 ,  量子演算 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 量子力学一般  (BA06010C) ,  その他の計算機  (JC06020B) ,  その他の超伝導応用装置  (BM04044V)

タイトルに関連する用語 (6件)： 伝導 ,  量子 ,  プロセッサ ,  密度行列 ,  指数 ,  実証