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J-GLOBAL ID：202202232885773671   整理番号：22A0792553

マイクロ流体デバイスにおける圧力損失測定:界面滑りの正確な定量化に関するレビュー【JST・京大機械翻訳】

Pressure Drop Measurements in Microfluidic Devices: A Review on the Accurate Quantification of Interfacial Slip

著者 (3件)： Vega-Sanchez Christopher (School of Chemistry and University of Sydney Nano Institute, The University of Sydney, Sydney, NSW, 2006, Australia) ,  Vega-Sanchez Christopher (School of Electromechanical Engineering, Costa Rica Institute of Technology, Campus, Cartago, 159-7050, Costa Rica) ,  Neto Chiara (School of Chemistry and University of Sydney Nano Institute, The University of Sydney, Sydney, NSW, 2006, Australia)
資料名： Advanced Materials Interfaces  (Advanced Materials Interfaces)
巻： 9  号： 5  ページ： e2101641  発行年： 2022年 
JST資料番号： W2484A  ISSN： 2196-7350  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 流れの境界条件の正しい理論的定義は,すべての流体力学研究を支持し,特に,流れがナノおよびミクロスケールに閉じ込められた状況で重要である。マイクロフルイディックデバイスは境界流条件を測定する優れたプラットフォームであり,圧力降下対流速法はマイクロスケール界面滑りと抗力低減の証拠の検出に特に有用である。本レビューは,圧力降下法に焦点を当て,滑りのマイクロ流体実験の精度と再現性に影響する主な実験パラメータを同定し,一般的誤差の大きさと源を定量化し,実用的な解決策とガイドラインを提供した。マイクロ流体デバイスにおける圧力降下測定で得られた界面滑りの文献結果の要約も提供し,滑り結果を予想滑りモデルと比較した。本レビューは,界面滑りの分野へ移動する新しい研究者の導入と,境界流条件の再現可能で信頼性のある測定を得るために,高度に制御された実験手順を作成する必要性の確立された研究者の紹介として役立った。理論モデルによる正確な実験の直接比較は,滑らかで構造化された表面上の滑りの機構に関する明瞭度をもたらすために結合されている。Copyright 2022 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *圧力損失 ,  *滑り ,  対流 ,  流体力学 ,  信頼性 ,  流体流 ,  明瞭度 ,  境界条件 ,  *流体 ,  モデル ,  マイクロフルイディクス ,  *マイクロ流体デバイス
準シソーラス用語： 理論モデル ,  *マイクロ流体 ,  抵抗低減 ,  境界流 ,  *界面滑り , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 抗力低減 ,  界面滑り ,  マイクロフルイディクス ,  表面汚染

分類 (1件)： 管内流  (BC02090Q)

タイトルに関連する用語 (5件)： マイクロ流体デバイス ,  圧力損失 ,  界面滑り ,  定量化 ,  レビュー