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J-GLOBAL ID:202202232986068662   整理番号:22A0150639

半陰的粒子法におけるバイアス粒子分布による誤差蓄積への新しい洞察【JST・京大機械翻訳】

New insights into error accumulation due to biased particle distribution in semi-implicit particle methods
著者 (7件):
資料名:
巻: 388  ページ: Null  発行年: 2022年 
JST資料番号: E0856A  ISSN: 0045-7825  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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本研究では,可変差に基づく一貫したスキームが半陰的粒子法に適用されるときの自由表面での不安定性問題を調べた。半解析的誤差解析法を提案し,不完全/バイアス近傍サポートが誤差蓄積と不安定性をどのようにトリガーするかを明らかにした。特に,離散化モデルを中心変数成分(CVC)と隣接変数成分(NVC)に分解した。誤差蓄積に及ぼす種々の成分の影響を理論的および数値的に解析した。誤差解析に基づいて,バイアス近傍サポートによる誤差蓄積のリスクを評価するために新しい指標を提案した。次に,自由表面粒子として誤差蓄積しやすい粒子を検出することにより,新しい自由表面検出条件を指数から提案した。数値例は,提案した条件がより少ない自由表面粒子を検出したが,既存の条件と比較してより安定なシミュレーションを生成することを示した。Copyright 2022 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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流体動力学一般 

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