Hu Yong について
Department of Bioengineering, University of California, Los Angeles, CA, USA について
Baggio Mariangela について
Department of Electronics and Nanoengineering, Aalto University, Espoo, Finland について
Dabironezare Shahab Oddin について
Center for Wireless Systems and Technology, Delft University of Technology, Delft, The Netherlands について
Tamminen Aleksi について
Department of Electronics and Nanoengineering, Aalto University, Espoo, Finland について
Toy Brandon について
Department of Electrical and Computer Engineering, University of California, Los Angeles, CA, USA について
Ala-Laurinaho Juha について
Department of Electronics and Nanoengineering, Aalto University, Espoo, Finland について
Brown Elliott R. について
College of Engineering and Computer Science, Wright State University, Dayton, OH, USA について
Llombart Nuria について
Center for Wireless Systems and Technology, Delft University of Technology, Delft, The Netherlands について
Deng Sophie X. について
Cornea Division, University of California, Los Angeles, CA, USA について
Wallace Vincent P. について
Department of Engineering and Mathematical Sciences, University of Western Australia, Crawley, WA, Australia について
Taylor Zachary D. について
Department of Electronics and Nanoengineering, Aalto University, Espoo, Finland について
IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology について
アラインメント について
シミュレーション について
薄膜 について
反射率 について
反射器 について
波長 について
角膜 について
画像処理 について
マグニチュード について
EHF波 について
ビームスプリッタ について
不整合 について
放物面鏡 について
ウォークオフ について
反射率測定 について
その他の電磁気的量の計測法・機器 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
ミリ波 について
角膜 について
反射率測定 について
アラインメント について
検証 について
イメージング について