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J-GLOBAL ID：202202233490800575   整理番号：22A0848722

ミリ波角膜反射率測定のためのアラインメント検証としての650GHzイメージング【JST・京大機械翻訳】

650 GHz Imaging as Alignment Verification for Millimeter Wave Corneal Reflectometry

著者 (11件)： Hu Yong (Department of Bioengineering, University of California, Los Angeles, CA, USA) ,  Baggio Mariangela (Department of Electronics and Nanoengineering, Aalto University, Espoo, Finland) ,  Dabironezare Shahab Oddin (Center for Wireless Systems and Technology, Delft University of Technology, Delft, The Netherlands) ,  Tamminen Aleksi (Department of Electronics and Nanoengineering, Aalto University, Espoo, Finland) ,  Toy Brandon (Department of Electrical and Computer Engineering, University of California, Los Angeles, CA, USA) ,  Ala-Laurinaho Juha (Department of Electronics and Nanoengineering, Aalto University, Espoo, Finland) ,  Brown Elliott R. (College of Engineering and Computer Science, Wright State University, Dayton, OH, USA) ,  Llombart Nuria (Center for Wireless Systems and Technology, Delft University of Technology, Delft, The Netherlands) ,  Deng Sophie X. (Cornea Division, University of California, Los Angeles, CA, USA) ,  Wallace Vincent P. (Department of Engineering and Mathematical Sciences, University of Western Australia, Crawley, WA, Australia) ,  Taylor Zachary D. (Department of Electronics and Nanoengineering, Aalto University, Espoo, Finland)
資料名： IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology  (IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology)
巻： 12  号： 2  ページ： 151-164  発行年： 2022年 
JST資料番号： W2304A  ISSN： 2156-342X  CODEN： ITTSBX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ミリ波,角膜反射率測定のオンラインアラインメント検証のためのシステム概念を提示した。システムは,ビーム走査を利用して,650GHzで角膜のマグニチュードのみの反射率マップを生成し,これらの画像を事前計算/測定テンプレートマップと比較し,十分なアラインメントを確認/排除した。5つの軸外放物面鏡,薄膜ビームスプリッタ,および2軸ガルバノメータミラーを用いたシステムを設計し,シミュレートし,幾何学的および物理的光学で評価した。シミュレーション結果は,参照反射器でテストされた実証システムの構成を知った。0.5mmx0.5mmメッシュ上に分布した配列テンプレートと26誤整列位置で計算した類似性メトリックスは,26位置のうち23で十分な不整合検出感度を示した。結果は,ビーム歪みとビームウォークオフによる結合効率の摂動のために,0.462mmの波長放射を用いて0.5mmのオーダーの位置精度が可能であることを示した。Copyright 2022 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *アラインメント ,  シミュレーション ,  薄膜 ,  *反射率 ,  反射器 ,  波長 ,  *角膜 ,  *画像処理 ,  マグニチュード ,  *EHF波 ,  ビームスプリッタ ,  不整合 ,  放物面鏡
準シソーラス用語： ウォークオフ ,  *反射率測定 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： その他の電磁気的量の計測法・機器  (AD07070F) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (6件)： ミリ波 ,  角膜 ,  反射率測定 ,  アラインメント ,  検証 ,  イメージング