Guo Huier について
School of Materials Science and Engineering, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui, 230009, PR China について
Guo Huier について
School of Physics, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui, 230009, PR China について
School of Microelectronics, Micro Electromechanical System Research Center of Engineering and Technology of Anhui Province, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui, 230009, PR China について
Yu Yongqiang について
School of Microelectronics, Micro Electromechanical System Research Center of Engineering and Technology of Anhui Province, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui, 230009, PR China について
Zhou Ru について
School of Electrical Engineering and Automation, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui, 230009, PR China について
Niu Haihong について
School of Electrical Engineering and Automation, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui, 230009, PR China について
Mao Xiaoli について
School of Physics, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui, 230009, PR China について
Wan Lei について
School of Electrical Engineering and Automation, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui, 230009, PR China について
Xu Jinzhang について
School of Electrical Engineering and Automation, Hefei University of Technology, Hefei, Anhui, 230009, PR China について
Materials Science in Semiconductor Processing について
ヘテロ接合 について
最適化 について
半導体 について
光検出器 について
応答特性 について
スペクトル について
素子構造 について
二次元 について
三次元 について
広帯域 について
パルスレーザ蒸着 について
スペクトル応答 について
結晶品質 について
セレン化インジウム について
直接バンドギャップ について
In_2Se_3 について
広帯域スペクトル について
Si互換2D-3Dヘテロ接合 について
パルスレーザ蒸着 について
近赤外検出 について
太陽電池 について
半導体薄膜 について
Si について
ヘテロ接合 について
広帯域 について
スペクトル について
光検出器 について