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J-GLOBAL ID：202202237719696233   整理番号：22A0553318

電位誘起劣化(PID)試験中の太陽電池亀裂の影響【JST・京大機械翻訳】

Impact of Solar Cell Cracks Caused During Potential-Induced Degradation (PID) Tests

著者 (2件)： Dhimish Mahmoud (Department of Electronic Engineering, University of York, York, U.K) ,  Kettle Jeff (James Watt School of Engineering, University of Glasgow, Glasgow, U.K)
資料名： IEEE Transactions on Electron Devices  (IEEE Transactions on Electron Devices)
巻： 69  号： 2  ページ： 604-612  発行年： 2022年 
JST資料番号： C0222A  ISSN： 0018-9383  CODEN： IETDAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 光起電力(PV)モジュールの電位誘起劣化(PID)は,電力損失が電場の強度,温度および相対湿度,およびPVモジュール材料に依存する現代モジュールにおける最も厳しいタイプの劣化の1つである。モジュール欠陥がPIDにどのように影響するかを理解することは,この問題を減らすのに重要である。本研究では,太陽電池における亀裂と破面欠陥の影響と,PIDに及ぼすそれらの影響を調べた。亀裂/欠陥のさまざまなレベルを有する太陽電池がPIDにどのような影響を与えるかを,エレクトロルミネセンス(EL)イメージングを用いて試験し,その結果,このような欠陥がPIDにサイズ効果を持つことを示した。また,初期欠陥/亀裂の大きさとホットスポットの存在の間の強い関係を確認した。亀裂(暗)面積が増加するにつれ,標準試験条件(STC)下のセル温度のさらなる増加があった。本研究では,太陽電池におけるマイナーな亀裂が太陽電池に対してかなりのPID効果を持たず,品質管理がこの分解経路を減少できるいくつかの再保証を提供することを観察した。Copyright 2022 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： エレクトロルミネセンス ,  *亀裂 ,  光起電力 ,  サイズ効果 ,  *太陽電池 ,  *電位 ,  電場 ,  品質管理 ,  欠陥 ,  相対湿度 ,  劣化 ,  画像処理 ,  破面 ,  ホットスポット
準シソーラス用語： 電力損失 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： トランジスタ  (NC03070N) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (6件)： 電位 ,  誘起 ,  PID ,  試験 ,  太陽電池 ,  亀裂