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J-GLOBAL ID：202202240114171412   整理番号：22A1093298

マルチスケール電子顕微鏡法を用いた引張試験Mg-4Alにおける粒界近傍の基底及び柱状滑りバンドへの転位構造の相関【JST・京大機械翻訳】

Correlating dislocation structures to basal and prismatic slip bands near grain boundaries in tensile-tested Mg-4Al using a multiscale electron microscopy approach

著者 (5件)： Yoo Yung Suk Jeremy (Department of Materials Science and Engineering, University of Michigan, Ann Arbor, MI, USA) ,  Andani Mohsen Taheri (Department of Materials Science and Engineering, University of Michigan, Ann Arbor, MI, USA) ,  Andani Mohsen Taheri (Department of Mechanical Engineering, University of Michigan, Ann Arbor, MI, USA) ,  Misra Amit (Department of Materials Science and Engineering, University of Michigan, Ann Arbor, MI, USA) ,  Misra Amit (Department of Mechanical Engineering, University of Michigan, Ann Arbor, MI, USA)
資料名： Materials Science & Engineering. A. Structural Materials: Properties, Microstructure and Processing  (Materials Science & Engineering. A. Structural Materials: Properties, Microstructure and Processing)
巻： 840  ページ： Null  発行年： 2022年 
JST資料番号： D0589B  ISSN： 0921-5093  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 4wt%Al(Mg-4Al)を有する引張試験Mgの基底および角柱滑り帯が結晶粒界に整合する転位構造を,転位パイルアップ理論のために作られた仮定を調べるために,マルチスケール電子顕微鏡法を用いて研究した:a)滑り帯は結晶粒界近くの転位配列から成り,b)隣接結晶粒中の応力集中は転位パイルアップによってのみ引き起こされる。試験後電子後方散乱回折(EBSD)走査の後,集束イオンビーム(FIB)リフトアウト試験片を関心領域から調製し,試料面がバルク試料表面に平行して,メソスケールとマイクロスケールの特性評価の間の直接相関を可能にした。滑り帯における高い転位密度と転位配列が最初の仮定で裏付けられた。しかし,全ての結晶粒における塑性変形の証拠は,2番目の仮定が偽であることを示した。さらに,結晶回転境界と〈c+a〉転位を含む転位構造は,基底面に解離し,多くの結晶塑性モデルで説明されない結晶粒界近くの付加的応力レリーフ機構を提供し,それは,微細構造における応力と歪分布を正確に予測するための補助モデルを必要とする。Copyright 2022 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 塑性 ,  *結晶粒界 ,  *滑り ,  *転位【結晶】 ,  *電子顕微鏡観察 ,  *引張試験 ,  *マグネシウム ,  転位密度 ,  結晶粒 ,  塑性変形 ,  滑り帯 ,  集束イオンビーム
準シソーラス用語： *マルチスケール ,  結晶塑性 ,  転位集積 ,  *転位構造 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： Mg ,  基礎スリップ ,  非基底滑り ,  EBSD ,  TEM ,  Hall-Petch

分類 (2件)： 機械的性質  (WB02030U) ,  変態組織,加工組織  (WB01030N)

タイトルに関連する用語 (11件)： マルチスケール ,  電子顕微鏡法 ,  引張試験 ,  Mg ,  粒界 ,  近傍 ,  基底 ,  滑り ,  バンド ,  転位構造 ,  相関