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J-GLOBAL ID:202202244305781899   整理番号:22A1054810

時間分解光電子放出電子顕微鏡によるナノフェムトスケールでの少数サイクル表面プラズモンポラリトン近接場の縦および横成分の時空間イメージング【JST・京大機械翻訳】

Spatiotemporal imaging of the longitudinal and transverse components of the few-cycle surface plasmon polaritons near-field in nano-femto scale by time-resolved photoemission electron microscopy
著者 (5件):
資料名:
巻: 128  号:ページ: 83  発行年: 2022年 
JST資料番号: E0501B  ISSN: 0946-2171  CODEN: APBOEM  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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斜め入射干渉時間分解光電子放出電子顕微鏡(ITR-PEEM)によりSPPを発射するために,銀膜でミリングした溝の長軸に沿って垂直および長軸に沿って,入射光を垂直および沿いに含む2つの異なる励起スキームを用いて,ナノFemtoスケールにおける数サイクル表面プラズモンポラリトン(SPP)の時空間イメージングを行った。トレンチの長軸に沿って入射光のITR-PEEM実験スキームの下で数サイクル(サブ10fs)パルスを用いて,同一プローブ領域における同一SPP場の横方向および縦方向成分発展の直感的動的伝搬を捉えた。銀とFDTDシミュレーションの複素誘電関数を用いて,SPP近接場の縦と横成分の時空間イメージングの実現可能性を確認した。一方,同一SPP場の横方向および縦方向成分の識別可能な干渉パターンから利益を得て,縦成分に関連した干渉パターンの光電子放出強度は横方向のものよりはるかに低く,s-およびp-偏光パルスの反射係数,光とSPPの間のベクトル方向,ならびにSPPの横方向および縦方向成分の固有場強度を考慮することによって,光電子放出強度の差異を議論した。これに基づいて,ITR-PEEMを用いて,横方向と縦方向の電場成分の間の比を初めて測定した。著者らの結果は,少数サイクルSPP場の更なる応用の基礎を築くものであり,SPPの三次元時空場の実験マッピングのための潜在的解決策を提供する。Copyright The Author(s), under exclusive licence to Springer-Verlag GmbH Germany, part of Springer Nature 2022 Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
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電磁気学一般  ,  固体レーザ 

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