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J-GLOBAL ID：202202246665299416   整理番号：22A0779032

広いスパンを持つ低マグニチュード電流測定のための効率的なディジタイザ【JST・京大機械翻訳】

An Efficient Digitizer for Measurement of Low-Magnitude Currents With Wide Span

著者 (4件)： Nair Sreehari Balachandran (Department of Avionics, IIST, Thiruvananthapuram, India) ,  Suresh Naveen (Department of Avionics, IIST, Thiruvananthapuram, India) ,  Sreekantan Anoop Chandrika (Department of Avionics, IIST, Thiruvananthapuram, India) ,  Kaarthik Sudharshan (Department of Avionics, IIST, Thiruvananthapuram, India)
資料名： IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement  (IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement)
巻： 71  ページ： ROMBUNNO.2000110.1-10  発行年： 2022年 
JST資料番号： C0232A  ISSN： 0018-9456  CODEN： IEIMAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,広いスパンにわたる低電流の測定のための効率的なディジタイザを提案した。低電流測定(D-LCM)技術に対する提案したディジタル装置は,アナログディジタル変換器(ADC)の量子化誤差の低減により,検出電流に比例するディジタル出力を提供する。さらに,提案したD-LCM技術は次の特徴を確実にする。1)電流出力センサのための簡単で費用対効果の高いアーキテクチャ;2)単極ADCに対する大きなスパンにわたる双方向電流センシング;3)種々の誤差源の影響の低減。トランスインピーダンス増幅器と多重領域積分器から成る新しいD-LCM設計は,前述の特徴の実現を助ける。アナログ回路は,入力スパンが幾何平均手法を用いて分割され,複数の領域で操作されるような単純なディジタルユニットによって知的に制御される。全方法論とその回路実現を数学的に導き,ADC量子化誤差の影響を低減する能力を論じた。他の誤差源の詳細な評価と必要な補償/設計指針も詳述した。D-LCM技術の性能を,開発したハードウェアプロトタイプに関するシミュレーション研究と実験試験を用いて評価した。実験テストは,二重領域ベースのD-LCM技術が,テストされた電流範囲(即ち,-100nAから100nA)に対して,1.3%の非線形性誤差でディジタル化器として作用することを示した。また,この誤差を,三重領域ベースのD-LCM技術を用いて,約0.47%まで低減できることを示した。D-LCMの精度関連性能も実験的に得られ,適切であることを示した。開発したD-LCM技術は,遅延電位分析器(RPA)とフォトダイオードベースシステムのような多くの機器に有用である。地球の電離層の研究に用いるRPA飛行プロトタイプにおいて,提案技法を実装し,検証した。Copyright 2022 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： シミュレーション ,  *電流 ,  フォトダイオード ,  地球 ,  *スパン ,  積分器 ,  *マグニチュード ,  多重化 ,  *ディジタイザ ,  分析機器 ,  ハードウェア ,  計算機アーキテクチャ ,  *電流測定 ,  アナログ回路 ,  AD変換器

分類 (2件)： AD・DA変換回路  (NC05080M) ,  長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O)

タイトルに関連する用語 (4件)： スパン ,  マグニチュード ,  電流測定 ,  ディジタイザ