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J-GLOBAL ID：202202247807858372   整理番号：22A0480518

ディープラーニング技術を組み込んだコンパクトモデルによる有機発光ダイオードの寿命評価【JST・京大機械翻訳】

Lifetime assessment of organic light emitting diodes by compact model incorporated with deep learning technique

著者 (6件)： Park Il-Hoo (School of Electrical Engineering, Korea University, 145, Anam-ro, Seongbuk-gu, Seoul, 02841, Republic of Korea) ,  Lee Song Eun (Department of Information Display, Hongik University, Seoul, 04066, Republic of Korea) ,  Kim Yunjeong (Display R&D Center, Samsung Display Co., Ltd, 1 Samsung-ro, Giheung-gu, Yongin-si, Gyeonggi-do, 17113, Republic of Korea) ,  You Seung Yeol (School of Electrical Engineering, Korea University, 145, Anam-ro, Seongbuk-gu, Seoul, 02841, Republic of Korea) ,  Kim Young Kwan (Department of Information Display, Hongik University, Seoul, 04066, Republic of Korea) ,  Kim Gyu-Tae (School of Electrical Engineering, Korea University, 145, Anam-ro, Seongbuk-gu, Seoul, 02841, Republic of Korea)
資料名： Organic Electronics  (Organic Electronics)
巻： 101  ページ： Null  発行年： 2022年 
JST資料番号： W1352A  ISSN： 1566-1199  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 機械学習の補強評価によるその場連続AC/DC測定により,有機発光ダイオード(OLED)の簡単で効率的な寿命モデリングを提案した。多重輸送層を有するリン光OLEDデバイスのAC/DCデバイスパラメータを,深い学習アルゴリズムを有する三次並列R//C回路モデルによってモニターして,解析した。寿命評価の予測効率は,その場AC/DCデバイスパラメータを結合することによって強化され,従来の定応力試験方法と比較して,評価時間を短縮する。Copyright 2022 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： リン光 ,  *多重化 ,  回路モデル ,  機械学習 ,  学習アルゴリズム ,  寿命評価
準シソーラス用語： *コンパクトモデル ,  *有機EL素子 ,  *深層学習 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： OLED ,  コンパクトモデリング ,  深層学習 ,  寿命評価 ,  自動連続測定 ,  44π-N N N-ジカルバゾール-ビフェニル(CBP)

分類 (1件)： 発光素子  (NC03082G)

タイトルに関連する用語 (4件)： ディープラーニング ,  コンパクトモデル ,  有機発光ダイオード ,  寿命評価