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J-GLOBAL ID：202202248023389586   整理番号：22A1079952

レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法の評価

Evaluation of A Don’t Care Filling Method of Control Signals for Controllers to Enhance Fault Diagnosability at Register Transfer Level

著者 (3件)： 土渕航平 (日本大 大学院生産工学研究科) ,  細川利典 (日本大 大学院生産工学研究科) ,  山崎浩二 (明治大 情報コミュニケーション)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告(Web)  (IEICE Technical Report (Web))
巻： 121  号： 388(DC2021 64-78)  ページ： 69-74 (WEB ONLY)  発行年： 2022年02月22日 
JST資料番号： U2030A  ISSN： 2432-6380  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： VLSIの故障診断に診断分解能を向上させるために,レジスタ転送レベルにおける診断容易化設計手法が提案されている.レジスタ転送レベルのコントローラがデータパスに供給する制御信号値にはドントケアが含まれている場合があり,従来手法では,診断容易性のためにコントローラの各状態遷移における制御信号のドントケアに対して論理値を割当てる.本論文では,挿入した欠陥信号線の場所に関して疑似ブール最適化問題を解いて求めた診断容易性の評価値と故障診断から求めた被疑故障数の関係を評価する.(著者抄録)

シソーラス用語： *故障診断 ,  *制御装置 ,  *制御信号 ,  *割当問題 ,  超LSI ,  技術 ,  データパス ,  最適化問題
準シソーラス用語： *ドントケア割当て ,  *レジスタ転送レベル ,  設計手法

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (13件)：

• H.Y.Chang, E.Manning and G.Metze: ”Fault Diagnosis of Digital Systems”, John Wiley & Sons, Inc.1970.
• V.Boppana and W. K. Fuchs, ′′Fault dictionary compaction by output sequence removal,′′ Proc. ICCAD,pp.287 -296, 2001.
• S. D. Millman, E. J . McCluskey and J. M. Acken, ′′Diagnosing CMOS Bridging Faults with Stuck -at Fault Dictionaries,′′ Proc. ITC, pp.860-870, 1990.
• S. Venkataraman and S. B. Drummonds, ′′A technique for logic fault diagnosis of interconnect open defects,′′ Proc. VTS, pp.313 -318, 2000.
• I. Hartanto, S. Venkataraman, W. K. Fuchs, E. M. Rudnick, J. H. Patel,S. Chakravarty, ′′Diagnostic simulation of stuck-at faults in sequential circuits using compact lists,′′ ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems (TODAES), pp.471 -489, Volume6, Issue 4, October 2001.

タイトルに関連する用語 (7件)： レジスタ転送レベル ,  故障診断 ,  容易 ,  コントローラ ,  制御信号 ,  割当て ,  評価