文献

J-GLOBAL ID：202202253776633112   整理番号：22A1043109

逆設計によるスピン分離に基づくオンチップ光偏光計【JST・京大機械翻訳】

Spin separation based on-chip optical polarimeter via inverse design

著者 (10件)： Zhou Changyu (Nanophotonics Research Centre, Institute of Microscale Optoelectronics, Shenzhen University, Shenzhen, 518060, China) ,  Xie Youpeng (Nanophotonics Research Centre, Institute of Microscale Optoelectronics, Shenzhen University, Shenzhen, 518060, China) ,  Ren Jianxin (Institute of Optics and Electronics, Nanjing University of Information Science and Technology, Nanjing 210044, China) ,  Wei Zepeng (Nanophotonics Research Centre, Institute of Microscale Optoelectronics, Shenzhen University, Shenzhen, 518060, China) ,  Du Luping (Nanophotonics Research Centre, Institute of Microscale Optoelectronics, Shenzhen University, Shenzhen, 518060, China) ,  Zhang Qiang (Nanophotonics Research Centre, Institute of Microscale Optoelectronics, Shenzhen University, Shenzhen, 518060, China) ,  Xie Zhenwei (Nanophotonics Research Centre, Institute of Microscale Optoelectronics, Shenzhen University, Shenzhen, 518060, China) ,  Liu Bo (Institute of Optics and Electronics, Nanjing University of Information Science and Technology, Nanjing 210044, China) ,  Lei Ting (Nanophotonics Research Centre, Institute of Microscale Optoelectronics, Shenzhen University, Shenzhen, 518060, China) ,  Yuan Xiaocong (Nanophotonics Research Centre, Institute of Microscale Optoelectronics, Shenzhen University, Shenzhen, 518060, China)
資料名： Nanophotonics (Web)  (Nanophotonics (Web))
巻： 11  号： 4  ページ： 813-819  発行年： 2022年 
JST資料番号： U8087A  ISSN： 2192-8614  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 偏光測定は,光通信,イメージングおよび天文学のような様々な分野で必須である。偏光測定用のオンチップナノ構造は,従来のバルク元素を置き換えることが最も期待され,従って,統合応用のための偏光計を最小化する。偏光検出によるいくつかのオンチップナノフォトニック偏光計を実装し,2つのスピン分極状態の分離が必要である。しかし,比較的低い結合効率または複雑なフォトニックシリコン回路のため,単一デバイスを用いたオンチップ偏光測定は依然として困難である。ここでは,逆設計法を用いて,ナノ構造を有するオンチップ偏光計を導入し,研究した。開発したデバイスは光の4つの偏光成分を検出する能力を示し,その内の2つはスピン分極であり,他の2つは直線偏光である。実験的にテストされたデータによる検索されたStokesパラメータは数値結果とよく一致した。また,高速Stokesベクトル光信号検出のための概念実証の証明を示した。16GBdまでのデータ速度による高速通信実験において,Cバンドにおける多重波長での偏光測定による検出光信号を,20%前方誤差補正閾値以下のビットエラー率で回復した。提案したオンチップ偏光計は,Stokes偏光測定および高速光通信応用の両方で有望な性能を示した。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 天文学 ,  光通信 ,  *偏光 ,  波長 ,  スピン分極 ,  *偏光計 ,  偏光測定 ,  画像処理 ,  多重化 ,  直線偏光 ,  *超小形回路技術 ,  Stokesパラメータ ,  ナノ構造
準シソーラス用語： *オンチップ ,  ビット誤り率 ,  高速通信 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： 逆設計 ,  偏光測定 ,  Stokesベクトル直接検出

分類 (1件)： 偏光測定と偏光計  (BD07050K)

タイトルに関連する用語 (4件)： 設計 ,  スピン ,  オンチップ ,  偏光計