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J-GLOBAL ID：202202258104689043   整理番号：22A0848655

TLC NANDフラッシュメモリのための漸進的チャネル推定法【JST・京大機械翻訳】

Gradual Channel Estimation Method for TLC NAND Flash Memory

著者 (6件)： Yang Liu (Chinese Academy of Sciences, Institute of Microelectronics, Beijing, China) ,  Wang Qi (Chinese Academy of Sciences, Institute of Microelectronics, Beijing, China) ,  Li Qianhui (Chinese Academy of Sciences, Institute of Microelectronics, Beijing, China) ,  Yu Xiaolei (Chinese Academy of Sciences, Institute of Microelectronics, Beijing, China) ,  He Jing (Chinese Academy of Sciences, Institute of Microelectronics, Beijing, China) ,  Huo Zongliang (Chinese Academy of Sciences, Institute of Microelectronics, Beijing, China)
資料名： IEEE Embedded Systems Letters  (IEEE Embedded Systems Letters)
巻： 14  号： 1  ページ： 7-10  発行年： 2022年 
JST資料番号： W2282A  ISSN： 1943-0663  CODEN： ESLMAP  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： NANDフラッシュの貯蔵密度が増加するにつれ,信頼性は著しく劣化し,NANDフラッシュメモリを雑音に対してより敏感にする。すべての騒音源の中で,保持雑音は主要なものである。チャネルパラメータ推定に基づく誤差補正は,保持ノイズを扱うための本質的方法である。本レターでは,TLC NANDフラッシュメモリのための時間節約チャネルパラメータ推定法を提案した。提案方法は3つの改良によって推定時間を減らす。1)1つの反復ステップにおける適合パラメータの低減;2)反復段階を減少させるための初期推測値として事前導出値を用いること;3)データセンシング操作と計算の間の並列利用。以前の研究と比較して,提案方法は,実験結果によって検証されるより高い精度とより低い時間オーバーヘッドでパラメータを推定する。Copyright 2022 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 雑音 ,  時間 ,  信頼性 ,  誤り訂正 ,  騒音源 ,  パラメータ推定 ,  チャネル ,  *フラッシュメモリ
準シソーラス用語： オーバヘッド ,  *NAND ,  *NANDフラッシュ ,  *推定法 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 記憶装置  (JC04060F)

タイトルに関連する用語 (4件)： TLC ,  NANDフラッシュメモリ ,  チャネル ,  推定法