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J-GLOBAL ID：202202259779905899   整理番号：22A0957178

W7-XでのPHAスペクトル測定におけるパイルアップ効果を含む強度キャリブレーション【JST・京大機械翻訳】

Intensity calibration including pile-up effect in PHA spectra measurements at W7-X

著者 (6件)： Kubkowska M. (Institute of Plasma Physics and Laser Microfusion, Hery 23, 01-497 Warsaw, Poland) ,  Gruca M. (Institute of Plasma Physics and Laser Microfusion, Hery 23, 01-497 Warsaw, Poland) ,  Jablonski S. (Institute of Plasma Physics and Laser Microfusion, Hery 23, 01-497 Warsaw, Poland) ,  Ryc L. (Institute of Plasma Physics and Laser Microfusion, Hery 23, 01-497 Warsaw, Poland) ,  Neuner U. (Max Planck Institute for Plasma Physics, 17491 Greifswald, Germany) ,  the W7-X team
資料名： Journal of Instrumentation  (Journal of Instrumentation)
巻： 17  号： 2  ページ： C02001 (10pp)  発行年： 2022年 
JST資料番号： W5562A  ISSN： 1748-0221  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： パルス-高さ-解析(PHA)はX線スペクトルの含有量と強度の測定に核融合装置で使用される技術である。ステラレータW7-Xにおいて,この方法を,約0.5~20keV[1,2]のエネルギー領域における放射の観測のためのシリコンドリフト検出器の適用と共に適用した。プラズマ不純物濃度の定量的情報を受けるために,いくつかの因子を考慮に入れるべきである。最初に,フィルタと検出器厚みの伝送を含む検出器応答曲線。この場合,標準X線源によるキャリブレーション測定が不可能であったので,検出器の幾何学と用いた材料の特性の知識から応答を決定した。第2に,視野の観測円錐を定義する幾何学パラメータ,そして最終的には,強度較正において重要な点であるパイルアップ効果である。パイルアップ効果は,X線信号プロセッサ(DXP)におけるディジタルフィルタピーク時間の低い値の設定によって最小化できるが,しばしば,それは時間依存X線強度信号のエネルギー分解能と時間分解能の間の妥協である。損失光子の数に関する情報は,検出器に入射する光子数とスペクトルで観測される光子数の知識から導出できる。W7-Xに専用のPHAシステムに対して,パイルアップを受けるパルスの損失は,DXPによって供給される入力計数率-ICRと出力計数率-OCRのパラメータ値によって決まる。不純物線強度の変化を研究し,不純物濃度を決定することができる強度スペクトルキャリブレーションにおいて常に考慮されている。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： X線 ,  X線スペクトル ,  幾何学 ,  光子 ,  ステラレータ ,  不純物 ,  キャリブレーション ,  X線源 ,  *スペクトル ,  核融合装置 ,  エネルギー領域 ,  パルス ,  計数率 ,  不純物濃度
準シソーラス用語： 光子数 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： スペクトル計測及びスペクトロメータ  (AD08030U) ,  放射線検出・検出器  (AD08020J)

タイトルに関連する用語 (4件)： W7-X ,  PHA ,  スペクトル測定 ,  キャリブレーション