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J-GLOBAL ID：202202260662956089   整理番号：22A0222991

工業用X線コンピュータ断層撮影下の計数技術とビーム硬化補正に基づく材料識別アプローチ:シミュレーション研究【JST・京大機械翻訳】

Material Identification Approach Based on the Counting Technique and Beam Hardening Correction Under Industrial X-Ray Computed Tomography: a Simulation Study

著者 (4件)： Ahmed Osama Mhmood Hamed (College of Nuclear Science and Technology, Harbin Engineering University, Harbin, China) ,  Ahmed Osama Mhmood Hamed (Chemistry and Nuclear Physics Institute, Sudan Atomic Energy Commission, Khartoum, Sudan) ,  Song YuShou (College of Nuclear Science and Technology, Harbin Engineering University, Harbin, China) ,  Xie Zhaoyang (College of Nuclear Science and Technology, Harbin Engineering University, Harbin, China)
資料名： Brazilian Journal of Physics  (Brazilian Journal of Physics)
巻： 52  号： 1  ページ： 26  発行年： 2022年 
JST資料番号： W4121A  ISSN： 0103-9733  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 定性的材料分析法を開発し,計算機トモグラフィー走査の下で材料を同定した。この手法は光子の計数とビーム硬化補正を考慮することにより多色X線スペクトルを解析することに基づいている。本研究では,GEANT4モンテカルロコードを用いて,イメージング物体の前後のスペクトルをシミュレーションした。入射エネルギースペクトルを4つの領域に分割し,対応する有効減衰を各領域に対して計算した。ビーム硬化による減衰の誤差を別々に補正した。次に,補正減衰の正規化を,正規化と原子番号Zの間の関係を説明する参照データベースにテストした。得られた結果は,参照値と正に一致し,材料を定性的に同定した。Mg合金,ポリエチレン,PVC,テフロン,およびMylar材料で作られた物体をテストするために,Compton散乱分光分析システムを用いて測定した137Csγ線源から来る単色スペクトルを用いて,この手法を実験的に検証した。正の一致は,このモデルが定性的材料調査に有効であることを示した。Copyright The Author(s) under exclusive licence to Sociedade Brasileira de Fisica 2021 Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： Compton散乱 ,  X線スペクトル ,  光子 ,  *シミュレーション ,  データベース ,  マグネシウム合金 ,  ポリエチレン ,  分光分析 ,  γ線源 ,  画像処理 ,  スペクトル ,  エネルギー分布 ,  原子番号 ,  正規化 ,  *計算機トモグラフィー

著者キーワード (6件)： 減衰係数 ,  ビーム硬化 ,  多色X線 ,  材料識別 ,  エネルギースペクトル ,  Geant4

分類 (2件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  医用画像処理  (JE04020T)

タイトルに関連する用語 (8件)： 工業 ,  X線 ,  コンピュータ断層撮影 ,  計数技術 ,  ビーム硬化 ,  材料識別 ,  シミュレーション ,  研究