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J-GLOBAL ID：202202261959870779   整理番号：22A0950046

表面分析のための新しい粒子実装法【JST・京大機械翻訳】

A new particle mounting method for surface analysis

著者 (8件)： Dundas Adam A. (Centre for Additive Manufacturing, Department of Chemical and Environmental Engineering, Faculty of Engineering, University of Nottingham, Nottingham, UK) ,  Dundas Adam A. (Advanced Materials and Healthcare Technologies, School of Pharmacy, University of Nottingham, Nottingham, UK) ,  Kern Stefanie (Advanced Materials and Healthcare Technologies, School of Pharmacy, University of Nottingham, Nottingham, UK) ,  Cuzzucoli Crucitti Valentina (Centre for Additive Manufacturing, Department of Chemical and Environmental Engineering, Faculty of Engineering, University of Nottingham, Nottingham, UK) ,  Scurr David J. (Advanced Materials and Healthcare Technologies, School of Pharmacy, University of Nottingham, Nottingham, UK) ,  Wildman Ricky (Centre for Additive Manufacturing, Department of Chemical and Environmental Engineering, Faculty of Engineering, University of Nottingham, Nottingham, UK) ,  Irvine Derek J. (Centre for Additive Manufacturing, Department of Chemical and Environmental Engineering, Faculty of Engineering, University of Nottingham, Nottingham, UK) ,  Alexander Morgan R. (Advanced Materials and Healthcare Technologies, School of Pharmacy, University of Nottingham, Nottingham, UK)
資料名： Surface and Interface Analysis  (Surface and Interface Analysis)
巻： 54  号： 4  ページ： 374-380  発行年： 2022年 
JST資料番号： E0709A  ISSN： 0142-2421  CODEN： SIANDQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 微粒子の化学分析は,分析の基質に粒子を搭載する必要性のために挑戦的である。両面接着テープは,しばしば用いられるが,通常,放出剤として使われるポリ(ジメチルシロキサン)(PDMS)で被覆されている。PDMSは表面化学をマスクし,この汚染界面に依存する材料性能を妨げる一般的な表面汚染である。PDMSは,表面化学分析の前後において,表面にわたって容易に拡散する非常に移動性のオリゴマ画分を含むことが知られており,これは,表面化学分析の前後において,搭載された微粒子試料の汚染をもたらす。これは,PDMSが分析手順または試料自体から生ずるかどうかを決定することを不可能にする。高分子微粒子をポリ(ヒドロキシエチルメタクリレート)(pHEMA)高分子溶液に搭載した新しい試料調製法を提案して,飛行時間二次イオン質量分析(ToF-SIMS)と3D OrbiSIMS分析を使用して,接着剤ディスクに搭載した粒子と比較した。pHEMA基板に搭載した粒子は,接着ディスクに取り付けた微粒子と比較して,PDMSシグナルを99.8%減少させた。これは,簡単な,迅速で安価な高分子溶液が,ToF-SIMSによる分析用の粒子付着,またはX線光電子分光法(XPS)のような他の表面化学分析技術(例えば,大量のシリコーン汚染物質の導入なしで)にいかに使用できるかを示す。Copyright 2022 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 円板 ,  界面 ,  化学分析 ,  接着 ,  付着 ,  接着剤 ,  微粒子 ,  ポリシロキサン ,  *表面分析 ,  オリゴマ ,  試料調製 ,  三次元 ,  界面化学 ,  二次イオン質量分析
準シソーラス用語： 低価格 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 微粒子分析 ,  PDMSフリー ,  試料調製 ,  ToF-SIMS

分類 (1件)： 有機化合物の物理分析  (CC03034A)

タイトルに関連する用語 (2件)： 表面分析 ,  実装