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J-GLOBAL ID:202202262151522342   整理番号:22A1035834

非破壊評価のための新しい電磁技術としてのコプレーナ容量センシング【JST・京大機械翻訳】

Coplanar Capacitive Sensing as a New Electromagnetic Technique for Non-Destructive Evaluation
著者 (5件):
資料名:
号: QNDE2021  ページ: Null  発行年: 2022年 
JST資料番号: A0478C  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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共平面容量技術は,試料の表面上に一連の電極を移動させることで,材料の評価に適用できる比較的新しい電磁非破壊試験(NDT)法である。電極形状,サイズ,主電極間の分離距離のような設計関連パラメータに加えて,試料の材料は共平面容量プローブ性能に影響する。本論文では,3D有限要素モデリング(FEM)を用いて,欠陥有り/無しの非導電性および導電性試験片の試験下の材料の関数として,電場挙動を評価し,同定した。物理的実験を,5mm厚さのプレキシガラス絶縁層によって覆われた表面欠陥を有するアルミニウム試料上の一対の長方形共平面電極によって行い,シミュレーション結果を検証し,プローブの性能を評価した。数値シミュレーションと実験結果の間に良好な定性的一致が観察された。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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非破壊試験 
タイトルに関連する用語 (2件):
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