トポロジカル絶縁体における非線形光学吸収と光電流【JST・京大機械翻訳】

Leppenen N. V.; Golub L. E.

文献

J-GLOBAL ID：202202263050403394 整理番号：22A0985881

トポロジカル絶縁体における非線形光学吸収と光電流【JST・京大機械翻訳】

Nonlinear optical absorption and photocurrents in topological insulators

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高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=22A0985881&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=D0746A") }}

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資料名：
巻： 105 号： 11 ページ： 115306 発行年： 2022年
JST資料番号： D0746A ISSN： 2469-9950 CODEN： PRBMDO 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

トポロジー絶縁体における表面およびエッジ状態における線形および円偏光の光吸収の理論を非線形光強度領域に対して開発した。表面状態の吸光度とエッジ状態の吸収幅は,高光強度Iで[数式:原文を参照]として減少する。光励起電子と正孔の弾性散乱を考慮した。高強度での吸収漂白は弾性散乱により強く抑制されることを示した。非線形強度領域に現れる表面状態の1光子および2光子吸収の線形円二色性は,光キャリアの弾性散乱により減少した。二次元トポロジー絶縁体のエッジ状態における吸収は,エネルギー緩和速度よりも強い場合,弾性散乱速度に依存する。偏光面配向に対する吸収長の依存性を任意の光強度で調べた。線形二色性は弾性と非弾性緩和時間の比により支配されることを示した。直線偏光と円偏光の両方によるエッジ状態で発生する光電流は,低Iでの線形から高強度の[数式:原文を参照]へのそれらの強度依存性を変化した。偏光と強度の両方による光電流の変化は,弾性散乱速度に強く依存する。考察した効果は,現代の実験で使われるレーザ強度でのテラヘルツ(THz)周波数領域で観察できる。Copyright 2022 The American Physical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

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表面の電子構造 , ポラリトン

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