文献

J-GLOBAL ID：202202263448371434   整理番号：22A0224128

X線光電子分光法データを解析するための二次元相関分光法の応用について【JST・京大機械翻訳】

On the application of two-dimensional correlation spectroscopy to analyze X-ray photoelectron spectroscopic data

著者 (3件)： Al Lafi Abdul Ghaffar (Department of Chemistry, Atomic Energy Commission, Damascus, Syrian Arab Republic) ,  Mougrabya Mohammed Amer (Department of Chemistry, Atomic Energy Commission, Damascus, Syrian Arab Republic) ,  Shehada Osama (The Scientific Office, Atomic Energy Commission, Damascus, Syrian Arab Republic)
資料名： Journal of Polymer Research  (Journal of Polymer Research)
巻： 29  号： 1  ページ： 11  発行年： 2022年 
JST資料番号： W1954A  ISSN： 1022-9760  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,二次元相関分光法(2D-COS)によるX線光電子分光法(XPS)データの解析に焦点を当てた。調査スペクトルに関する2D-COS解析の一般化形式を実行するのは役立たないが,後者を用いて,スペクトルの異なる領域を互いに相関させることができた。この相関は有用な定性的情報をもたらし,それは研究したプロセスの根底にある物理と化学と一致し,材料への摂動効果の機構に関係する。さらに,測定試料に及ぼすプローブ入射X線ビームの影響を調べた。測定した試料の化学構造と安定性に依存して,X線ビームの影響は,ヘリウム照射PEEKに対する正味帯電効果から非晶質および陽子照射PEEK試料の表面組成の大きな変化へ変化した。XPSは高感度表面分析技術であり,高分子試料の分析における誤解結果を避けるために注意する必要がある。Copyright The Polymer Society, Taipei 2021 Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 帯電 ,  陽子照射 ,  ヘリウム ,  非晶質 ,  高分子 ,  スペクトル ,  表面分析 ,  *二次元 ,  摂動 ,  ポリエーテルエーテルケトン ,  *X線光電子分光法 ,  *相関分光法
準シソーラス用語： 化学構造 ,  *二次元相関分光法 ,  X線ビーム , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： ポリ(エーテルエーテルケトン) ,  2D相関分光法 ,  X線光電子分光法 ,  イオン照射

分類 (3件)： 高分子固体の構造と形態学  (CG02022M) ,  高分子固体の物理的性質  (CG02024U) ,  重縮合  (CG04050Z)

タイトルに関連する用語 (4件)： X線光電子分光法 ,  解析 ,  二次元相関分光法 ,  応用