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J-GLOBAL ID：202202263811718416   整理番号：22A0629000

実験室X線回折コントラストトモグラフィーを用いた三次元粒子分解歪マッピング:理論解析【JST・京大機械翻訳】

Three-dimensional grain resolved strain mapping using laboratory X-ray diffraction contrast tomography: theoretical analysis

著者 (2件)： Lindkvist Adam (Technical University of Denmark, Department of Mechanical Engineering, Kongens Lyngby, 2800, Denmark) ,  Zhang Yubin (Technical University of Denmark, Department of Mechanical Engineering, Kongens Lyngby, 2800, Denmark)
資料名： Journal of Applied Crystallography  (Journal of Applied Crystallography)
巻： 55  号： 1  ページ： 21-32  発行年： 2022年 
JST資料番号： D0631A  ISSN： 0021-8898  CODEN： JACGAR  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 実験室回折コントラストトモグラフィー(LabDCT)は,実験室X線源を用いて非破壊的に3次元の多結晶試料の結晶方位をマッピングする最近開発された技術である。本研究では,LabXRSと名付けた新しい理論的手順,LabDCTを拡張し,粒子スケールでの偏差歪テンソルのマッピングを含み,シミュレーションデータを用いて検証した。検証のために,調査した形状は,等しいソース対サンプルと試料対検出器距離が14mmのLaue集束を利用する典型的な近接場LabDCTセットアップを含み,サンプル対検出器距離が200mmに増大する拡大装置,ソース対試料距離が200mmに増大する遠方場Laue集束装置,およびソース対サンプル距離が200mmの近接場装置である。歪分解能は,実験の幾何学に依存して1~5×10-4の範囲にあることが分かった。歪分解能に及ぼす結晶粒位置,粒径および結晶粒方位を含む微細構造パラメータと同様に,ピクセルビンニング,投影数およびイメージングノイズを含む他の実験パラメータの影響を調べた。これらのパラメータの依存性,および実際の実験に対する含意を考察した。Copyright 2022 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *X線回折 ,  *回折 ,  幾何学 ,  雑音 ,  シミュレーション ,  集束 ,  結晶方位 ,  X線源 ,  画像処理 ,  多結晶 ,  結晶粒 ,  *三次元 ,  構造パラメータ ,  遠方場 ,  近接場

著者キーワード (5件)： 歪 ,  ストレス ,  実験室回折コントラストトモグラフィー(LabDCT) ,  三次元マッピング ,  実験室X線歪マッピング(LabXRS)

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (8件)： 実験室 ,  X線回折 ,  コントラスト ,  トモグラフィー ,  分解 ,  歪 ,  マッピング ,  理論解析