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J-GLOBAL ID：202202264204047192   整理番号：22A0977429

ガスボーイング固体界面フラッシオーバ確率に基づく非標準インパルス電圧に対する波形等価法【JST・京大機械翻訳】

Waveform Equivalence Method for Non-Standard Impulse Voltages Based on Gas-Solid Interface Flashover Probability

著者 (6件)： Sima Wenxia (State Key Laboratory of Power Transmission Equipment & System Security and New Technology, Chongqing University, Chongqing, China) ,  Xu Jianwei (State Key Laboratory of Power Transmission Equipment & System Security and New Technology, Chongqing University, Chongqing, China) ,  Sun Potao (State Key Laboratory of Power Transmission Equipment & System Security and New Technology, Chongqing University, Chongqing, China) ,  Huang Yuhang (State Key Laboratory of Power Transmission Equipment & System Security and New Technology, Chongqing University, Chongqing, China) ,  Yang Ming (State Key Laboratory of Power Transmission Equipment & System Security and New Technology, Chongqing University, Chongqing, China) ,  Yuan Tao (State Key Laboratory of Power Transmission Equipment & System Security and New Technology, Chongqing University, Chongqing, China)
資料名： IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation  (IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation)
巻： 29  号： 1  ページ： 95-102  発行年： 2022年 
JST資料番号： W0578A  ISSN： 1070-9878  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 測定したインパルス電圧を受ける誘電体の故障特性は,二重指数インパルス電圧(DEIV)下のそれらと比較して著しく異なる。これは,絶縁の協調と設計への困難な挑戦である。この困難に対応する重要な問題は,非標準インパルス電圧とDEIVの間の普遍的な等価性の関係を同定することである。本研究では,このアイデアを用いて,減衰交互インパルス電圧(DAIV)とDEIVの試験プラットフォームを確立し,2タイプの207波形のシリコンゴムの試料の表面上のフラッシュオーバ確率の特性を実験的に調べた。これを用いて,フラッシュオーバ確率に及ぼす波形パラメータの影響を決定した。結果は,DAIVの下のガス-石固体界面のフラッシュオーバ確率がDEIVのものより一般に高いことを示した。誤差逆伝搬アルゴリズムと大量の実験データに基づいて,DEIVとDAIVのフラッシュオーバ確率を予測するモデルを確立し,実験で7.5%以下の最大相対誤差を得た。画像の品質の評価の観点から,DAIVとDEIVの波形の等価性を評価する方法を,評価の対象としてフラッシュオーバ確率を用いて提案した。実験の結果は,等価性における全体の誤差が1.5%より低いことを示した。したがって,提案方法は,断熱を統計的に調整するための実行可能な経路を提供する。Copyright 2022 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *気体 ,  減衰 ,  表面 ,  誘電体 ,  故障 ,  シリコーンゴム ,  *衝撃電圧 ,  *波形 ,  波形等化 ,  測定データ ,  *フラッシュオーバ ,  等価性
準シソーラス用語： 相対誤差 ,  逆伝搬アルゴリズム ,  固体界面 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 開閉装置  (NB09030I) ,  気体放電  (BJ03020T)

タイトルに関連する用語 (7件)： ボーイング ,  固体界面 ,  フラッシオーバ ,  確率 ,  標準 ,  インパルス電圧 ,  波形等価