文献

J-GLOBAL ID：202202264252567594   整理番号：22A1071065

近接圧力下における光電子分光分析のための分析装置の進歩

Advances in Analytical Instrumentation for Photoelectron Spectroscopy at Near-ambient Pressures

著者 (2件)： WEIDNER Mirko (SPECS Surface Nano Analysis GmbH) ,  STREIBEL Verena (Walter Schottky Institute, Technische Universitaet Muenchen)
資料名： 表面と真空  (Vacuum and Surface Science)
巻： 65  号： 3  ページ： 133-138(J-STAGE)  発行年： 2022年 
JST資料番号： G0194B  ISSN： 2433-5835  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 光電子分光が発明されて以来,研究者は使用環境に近い条件下で物質を分析することを試みてきた。近圧X線光電子分光法は,一般的に非真空対応試料,特に固体-液体,固体-気体界面などの相境界を分析することができるため,この探求における論理的発展であると言える。最大100mbarの分析圧力に対応する分光器システムの開発により,2000年代初頭から多くの新しい実験ジオメトリーが実現されてきた。それ以降,オフシンクロトロン実験装置の普及や,材料使用条件を模擬した高度な試料環境の整備により,実験能力と多様性はさらに向上している。この進歩により,例えば,触媒実験や電気化学実験中のオペランド分光が可能になった。本研究では,装置設計の観点から,基本的なシステム設計の留意点とこの分野の最近の開発について簡単に紹介する。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 圧力 ,  *光電子分光分析 ,  分析機器 ,  *X線光電子分光法 ,  固液界面 ,  気固界面 ,  相境界 ,  触媒反応 ,  電気化学反応
準シソーラス用語： 圧力印加 ,  分析装置 ,  オペランド

著者キーワード (10件)： NAP-XPS ,  NAP XPS ,  周囲圧力 ,  X線光電子分光法 ,  電気化学 ,  NAP-XPS ,  NAP XPS ,  周囲圧力 ,  X線光電子分光法 ,  電気化学

分類 (1件)： 電子分光スペクトル  (BM09060K)

引用文献 (15件)：

• 1) H. Siegbahn and K. Siegbahn : J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2, 319 (1973).
• 2) H. Siegbahn : J. Phys. Chem. 89, 897 (1985).
• 3) Knop-Gericke : “Advances in Catalysis, Vol. 52” (Academic Press, 2009) pp. 213-272.
• 4) R.W. Joyner, M.W. Roberts and K. Yates : Surf. Sci. 87, 501 (1979).
• 5) H.J. Ruppender, M. Grunze, C.W. Kong and M. Wilmers : Surf. Interface Anal. 15, 245 (1990).

タイトルに関連する用語 (2件)： 光電子分光分析 ,  分析装置