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J-GLOBAL ID：202202264496826558   整理番号：22A1104669

修正Sagnac干渉計による多重光反射を用いた屈折率発見【JST・京大機械翻訳】

Refractive Index Finding using Multiple Light Reflections with Modified Sagnac Interferometer

著者 (5件)： Usman Abdullahi (Kmutt,Department of Electronics and Telecommunication Engineering,Bangkok,Thailand) ,  Bhatranand Apichai (Kmutt,Department of Electronics and Telecommunication Engineering,Bangkok,Thailand) ,  Jiraraksopakun Yuttapong (Kmutt,Department of Electronics and Telecommunication Engineering,Bangkok,Thailand) ,  Kaewon Rapeepan (Silpakorn University,Faculty of Engineering and Industrial Technology,Department of Electrical Engineering,Nakhon Pathom,Thailand) ,  Pawong Chutchai (Rajamangala University of Technology Krungthep,Physics Division, Faculty of Science and Technology,Bangkok,Thailand)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2022  号： iEECON  ページ： 1-4  発行年： 2022年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ここでは,修正Sagnac干渉計による多重光反射を用いた屈折率発見を提案した。材料とフリンジパターンの厚さは,そのような測定における基本的パラメータである。この提案した手法では,420Hzの周波数で振動する圧電変換器(PZT)に取り付けた2つの平行鏡による多重光反射が位相遅延を導入した。位相遅延と反射角を,屈折率決定のために見出し,採用した。入射面に関して,0,π/2,πおよび3π/2radで配向した半波板(HWP)によって,4つの同一のインターフェログラムを得た。それぞれのパターンにおける強度を評価し,位相シフトを計算した。Sagnac干渉計による多数の反射を用いて,この技術を提示して,あるキャリア周波数において位置に固定したサンプルを有する多重フリンジを得た。Copyright 2022 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 位相シフト ,  *屈折率 ,  波形板 ,  *多重化 ,  *光反射
準シソーラス用語： *Sagnac干渉計 ,  位相遅れ ,  圧電変換器 ,  キャリア周波数 ,  インターフェログラム , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： Sagnac干渉計 ,  多重 ,  光反射 ,  屈折率 ,  発見