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J-GLOBAL ID:202202265225851700   整理番号:22A0629009

X線自由電子レーザに基づく暗視野X線顕微鏡法:シミュレーションに基づく研究【JST・京大機械翻訳】

X-ray free-electron laser based dark-field X-ray microscopy: a simulation-based study
著者 (11件):
資料名:
巻: 55  号:ページ: 112-121  発行年: 2022年 
JST資料番号: D0631A  ISSN: 0021-8898  CODEN: JACGAR  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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暗視野X線顕微鏡(DFXM)は,深く埋め込まれた結晶要素における微細構造と局所歪場の3次元マッピングを提供する非破壊フルフィールドイメージング技術である。これは回折ビームに対物レンズを配置することによって達成され,拡大投影画像を与える。今まで,この方法をミリ秒の時間分解能で適用した。本研究では,X線自由電子レーザ光源とポンププローブ方式を用いたピコ秒時間スケールでのDFXMの実現可能性を考察した。熱機械的歪波シミュレーションを,ダイヤモンド単結晶におけるフォノン動力学のDFXM画像をシミュレートするために,幾何光学および波面伝搬光学と組み合わせた。Linac Coherent Light SourceにおけるXCS機器の仕様を用いて,シミュレーションDFXM画像において,歪波の伝搬を明確に示した。Copyright 2022 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
分類
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X線回折法 
タイトルに関連する用語 (5件):
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