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J-GLOBAL ID：202202267426255231   整理番号：22A0655572

[数式:原文を参照]雑音測定からのスピンガラス自由エネルギー景観の抽出【JST・京大機械翻訳】

Extraction of the spin-glass free-energy landscape from [Formula : see text] noise measurements

著者 (3件)： Harrison David C. (School of Physics and Astronomy, The University of Minnesota, Minneapolis, Minnesota 55455, USA) ,  Dahlberg E. Dan (School of Physics and Astronomy, The University of Minnesota, Minneapolis, Minnesota 55455, USA) ,  Orbach Raymond L. (Texas Materials Institute, The University of Texas at Austin, Austin, Texas 78712, USA)
資料名： Physical Review. B  (Physical Review. B)
巻： 105  号： 1  ページ： 014413  発行年： 2022年 
JST資料番号： D0746A  ISSN： 2469-9950  CODEN： PRBMDO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： [数式:原文を参照]抵抗雑音を薄いCuMn(13.5at.%)スピンガラス膜で測定した。温度と周波数依存性を自由エネルギー障壁の景観の観点から解析した。この解析は,10nmと80nmの間の種々の薄膜厚さに対する完全な障壁分布を提供した。自由エネルギー障壁高さ分布幅とエネルギー位置を決定した。固定形状およびエネルギーを有する以前のモデルとは対照的に,自由エネルギー景観は,温度が低下するにつれて,シフトおよび変化形状の両者の障壁の分布によって記述される。この分布の依存性は最近の予測と対照的である。ゆらぎ散逸定理を用いて,[数式:原文を参照]測定は[数式:原文を参照]と接続し,後者の他の直接測定との一致を示した。Copyright 2022 The American Physical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *自由エネルギー ,  *雑音 ,  薄膜 ,  *雑音測定 ,  温度依存性 ,  周波数依存性 ,  モデル ,  ゆらぎ散逸定理 ,  *スピンガラス
準シソーラス用語： 直接測定 ,  障壁高さ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 金属の磁区及び磁化過程  (BM06112D) ,  酸化物結晶の磁性  (BM06050E) ,  磁性理論  (BM06020X) ,  表面の電子構造  (BM02080J) ,  13-15族化合物を含む半導体-半導体接合  (BM03082Y)

タイトルに関連する用語 (6件)： 数式 ,  参照 ,  雑音測定 ,  スピンガラス ,  自由エネルギー ,  景観