文献

J-GLOBAL ID：202202268583144438   整理番号：22A0631123

時間領域反射率測定を用いたスカラーメタ表面のキャラクタリゼーション【JST・京大機械翻訳】

Characterizing Scalar Metasurfaces Using Time-Domain Reflectometry

著者 (3件)： Dolezal Tomas (Department of Radioelectronics, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Lerch Laboratory of EM Research, Brno University of Technology, Brno, Czech Republic) ,  Kadlec Petr (Department of Radioelectronics, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Lerch Laboratory of EM Research, Brno University of Technology, Brno, Czech Republic) ,  Stumpf Martin (Department of Radioelectronics, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Lerch Laboratory of EM Research, Brno University of Technology, Brno, Czech Republic)
資料名： IEEE Access  (IEEE Access)
巻： 10  ページ： 9677-9685  発行年： 2022年 
JST資料番号： W2422A  ISSN： 2169-3536  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： スカラーメタ表面の電磁(EM)構成特性の決定のための2つの効率的な方法を導入し,議論した。利用可能な方法とは対照的に,メタ表面の時間領域(TD)解析における最近の関心とは反対に,スカラーメタ表面の材料パラメータが,EM反射パルス形状からのみTDで直接容易に達成できることを示した。2つの方法は,解析的TD反射率測定(TDR)手法と最新の確率的最適化技術に基づいている。提案した技術の妥当性と性質を示す多数の説明的数値例を示した。Copyright 2022 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 最適化 ,  *スカラー ,  構成 ,  性質 ,  キャラクタリゼーション
準シソーラス用語： 材料パラメータ ,  *時間領域 ,  *反射率測定 ,  確率的最適化 ,  パルス波形 ,  時間領域反射測定法 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： パターン認識  (JE07000S) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 時間領域反射率測定 ,  スカラー ,  メタ表面 ,  キャラクタリゼーション