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J-GLOBAL ID：202202271337222546   整理番号：22A0891805

Aurivillius型Bi_4Ti_3O_12-Bi_5Fe_0.5Co_0.5Ti_3O_15固溶体における誘電緩和と伝導機構【JST・京大機械翻訳】

Dielectric relaxations and conduction mechanism in Aurivillius-type Bi₄Ti₃O₁₂-Bi₅Fe_0.5Co_0.5Ti₃O₁₅ solid solution

著者 (8件)： Zuo Xuzhong (College of Electrical and Electronic Engineering, Anhui Science and Technology University, Bengbu, People’s Republic of China) ,  He Enjie (College of Electrical and Electronic Engineering, Anhui Science and Technology University, Bengbu, People’s Republic of China) ,  Hui Zhenzhen (College of Chemistry and Materials Engineering, Anhui Science and Technology University, Bengbu, People’s Republic of China) ,  Zhu Shunjin (Key Laboratory of Materials Physics, Institute of Solid State Physics, University of Chinese Academy of Sciences, Hefei, People’s Republic of China) ,  Bai Jin (Key Laboratory of Materials Physics, Institute of Solid State Physics, University of Chinese Academy of Sciences, Hefei, People’s Republic of China) ,  Yang Jie (Key Laboratory of Materials Physics, Institute of Solid State Physics, University of Chinese Academy of Sciences, Hefei, People’s Republic of China) ,  Zhu Xuebin (Key Laboratory of Materials Physics, Institute of Solid State Physics, University of Chinese Academy of Sciences, Hefei, People’s Republic of China) ,  Dai Jianming (Key Laboratory of Materials Physics, Institute of Solid State Physics, University of Chinese Academy of Sciences, Hefei, People’s Republic of China)
資料名： Journal of Materials Science. Materials in Electronics  (Journal of Materials Science. Materials in Electronics)
巻： 33  号： 9  ページ： 6354-6367  発行年： 2022年 
JST資料番号： W0003A  ISSN： 0957-4522  CODEN： JMTSAS  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 修正pechini法で調製したAurivillius型Bi_4Ti_3O_12-Bi_5Fe_0.5Co_0.5Ti_3O_15固溶体の構造,マルチフェロイック,誘電および伝導率特性を調べた。磁気測定は,二重残留磁化2M_ris2.6memu/gと強磁性Curie温度が599Kであることを示した。光学バンドギャップE_gは2.31eVである。一方,4つの異なる誘電緩和が300~1050Kの温度範囲で観測された。対応する緩和機構を,複素誘電,インピーダンス,電気弾性率およびac伝導率スペクトルの測定によって系統的に研究した。E_a=0.752eVの低周波緩和は酸素空孔の熱マイグレーションに起因し,E_a=0.294eVの媒質周波数は局在化した正孔移動挙動に割り当てられ,一方E_a=0.327eVの高周波数は電子のホッピング過程と会合した。さらに,ε>800K以上での誘電損失緩和は,E_a=2.00eVのかなり大きな活性化エネルギーを示した。dc伝導率はイオン-p型混合伝導機構に起因した。Copyright The Author(s), under exclusive licence to Springer Science+Business Media, LLC, part of Springer Nature 2022 Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： Curie温度 ,  インピーダンス ,  活性化エネルギー ,  強磁性 ,  *固溶体 ,  正孔 ,  *誘電緩和 ,  誘電損失 ,  スペクトル ,  媒質 ,  *緩和現象 ,  ホッピング伝導
準シソーラス用語： 酸素空格子点 ,  *伝導機構 ,  伝導率 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固体デバイス材料  (NC03020K)

タイトルに関連する用語 (4件)： Aurivillius ,  固溶体 ,  誘電緩和 ,  伝導